测量粒度分布的 4 种主要方法
粒度分布可以用多种方法测量。
最传统、最常用的技术之一是筛分分析法。
这种方法是将样品通过一系列筛孔逐渐变小的筛子。
对每个筛子上的残留物质进行称重，以确定粒度分布。
筛分分析
在筛网分析法中，使用的是一叠筛孔大小不同的筛子。
样品放在网眼尺寸最大的顶层筛子上。
筛子堆中后面的每个筛子的筛孔尺寸都较小。
然后用机械方法摇动筛子，让颗粒根据大小通过筛子。
对每个筛子上保留的材料进行称重，以确定各种尺寸颗粒的百分比。
筛分分析由 ASTM 和 ISO 等组织进行标准化。
这些组织提供了有关筛子尺寸、测试程序和验收标准的详细指南。
筛子的定期维护和校准对确保结果准确至关重要。
这种方法广泛应用于矿物、土壤、化学品和农产品等处理颗粒材料的行业。
其他方法
直接图像分析法（SIA 和 DIA）包括捕捉颗粒图像并对其进行分析，以确定粒度和形状。
静态图像分析 (SIA) 可捕捉单张图像。
动态图像分析（DIA）捕捉颗粒运动的图像。
光散射技术（SLS 和 DLS）用于测量从亚微米到毫米的颗粒尺寸。
激光衍射（SLS）测量颗粒散射光的衍射图样。
动态光散射（DLS）测量颗粒运动引起的光散射波动。
样品制备和分析
在筛分之前，可能需要对样品进行制备。
这可能包括干燥、调节或分割样品。
筛子的选择和样品量根据材料和适用标准来确定。
筛分过程之后，要对每个筛子上保留的馏分进行称重。
通过这些数据可以详细了解样品中的粒度分布。
结论
筛分分析是测量粒度分布的基本方法。
它为各种材料提供了一种直接有效的方法。
图像分析和光散射等其他先进技术则提供了额外的功能。
这些技术尤其适用于更细的颗粒和研究环境。
方法的选择取决于材料的具体要求和粒度分析所需的详细程度。
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