如何测量粒度分布
摘要
粒度分布可以用多种方法测量，其中筛分分析是最传统、最常用的技术之一。这种方法是将样品通过一系列网眼尺寸逐渐变小的筛子，然后称量每个筛子上的截留物质，从而确定粒度分布。
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详细说明：
- 筛分分析：程序：
- 在筛分分析中，要使用一叠不同网眼尺寸的筛子。样品放在网眼尺寸最大的最上面的筛子上。筛子堆中后面的每个筛子的网眼尺寸都较小。然后用机械方法摇动筛子，让颗粒根据大小通过筛子。对每个筛子上保留的材料进行称重，以确定各种尺寸颗粒的百分比。设备和标准：
- ASTM 和 ISO 等组织对筛分分析进行了标准化，提供了有关筛子尺寸、测试程序和验收标准的详细指导。筛子的定期维护和校准对确保结果准确至关重要。应用：
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这种方法广泛应用于矿物、土壤、化学品和农产品等处理颗粒材料的行业。
- 其他方法：直接图像分析法（SIA 和 DIA）：
- 这些方法涉及捕捉颗粒的图像并对其进行分析，以确定其大小和形状。静态图像分析（SIA）捕捉单一图像，而动态图像分析（DIA）捕捉运动中的颗粒图像。光散射技术（SLS 和 DLS）：
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激光衍射（SLS）和动态光散射（DLS）用于测量从亚微米到毫米的颗粒尺寸。SLS 测量颗粒散射光的衍射图样，而 DLS 则测量颗粒运动引起的光散射波动。
- 样品制备和分析：制备步骤：
- 在筛分之前，可能需要对样品进行制备，包括干燥、调节或分割样品。筛子的选择和样品量根据材料和适用标准确定。分析步骤：
筛分过程之后，称量每个筛子上保留的馏分，并计算基于质量的分布。通过这些数据可以详细了解样品中的粒度分布。结论
筛分分析是测量粒度分布的基本方法，可为各种材料提供直接有效的方法。图像分析和光散射等其他先进技术则提供了额外的功能，尤其适用于更细的颗粒和研究环境。方法的选择取决于材料的具体要求和粒度分析所需的详细程度。
