知识 您如何测量粒度分布?为您的材料匹配正确的测量技术
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技术团队 · Kintek Solution

更新于 1 天前

您如何测量粒度分布?为您的材料匹配正确的测量技术

测量粒度分布的主要方法是筛分分析、静态和动态光散射,以及直接图像分析。每种技术都基于不同的原理,适用于不同类型的材料和粒度范围,从大颗粒到亚微米级的纳米颗粒。

选择正确的方法不是要找到“最佳”方法,而是要将技术与您材料的具体特性以及您需要获得的信息质量相匹配。

为什么粒度分布很重要

了解材料中颗粒大小的分布是质量保证和产品开发中的一个关键方面。它不是一个抽象的测量;它直接影响最终产品的性能和一致性。

对物理和化学性质的影响

颗粒的大小和分布决定了关键的材料特性。这包括机械的整体行为、材料的流动性、过滤特性、电导率,甚至其味道或外观。

在质量保证中的作用

对于散装货物而言,一致的粒度分布是稳定制造过程的关键指标。该分布的任何意外变化都可能预示着最终会影响成品质量的问题。

关键测量技术的细分

最常见的粒度分析方法可以归为几大类,每一类都有其优势。

筛分分析(传统标准)

筛分分析是最古老、最直接的方法。将样品通过一组具有逐渐减小网孔尺寸的筛子,将材料物理地分离成不同的尺寸级分,然后称重。

该技术非常可靠,非常适合分析各种干燥的颗粒状材料。

静态光散射 (SLS) / 激光衍射 (LD)

这种现代技术的工作原理是让激光束穿过分散的样品。颗粒以不同的角度散射光,小颗粒比大颗粒以更宽的角度散射光。

检测器测量散射光的模式,然后将其通过数学方法转换为粒度分布。它速度快、重现性高,并且覆盖了非常广泛的尺寸范围。

动态光散射 (DLS)

DLS 专门用于测量非常小的亚微米颗粒和纳米颗粒。它分析悬浮在液体中的颗粒布朗运动引起的散射光波动。

这种运动的速度与粒度直接相关,从而可以在纳米范围内实现极其精细的测量。

直接图像分析

该方法使用显微镜和强大的软件来拍摄单个颗粒的图像并测量其特定尺寸。这可以在静态样品上(在载玻片上)或在颗粒流过相机时(动态)进行。

它独特的优势在于不仅可以测量尺寸,还可以表征颗粒形状,这对于某些应用至关重要。

了解取舍

没有一种方法对所有情况都是完美的。选择涉及基于您的材料和分析目标的明确的权衡。

粒度范围至关重要

您预期的粒度是第一个筛选条件。筛分分析最适合您肉眼可见的颗粒,通常大于 45 微米。激光衍射在广泛的中等范围(从高纳米到毫米)表现出色,而 DLS 是亚微米世界的专家。

样品类型和制备

考虑您的材料。它是易于流动的干粉吗?筛分分析是一个很好的选择。如果您的材料是细粉末、乳液,或者必须悬浮在液体中进行测量,则光散射方法更合适。

您真正需要的数据

如果您需要可靠的分布曲线进行常规过程控制,筛分或激光衍射是高效的。如果您需要了解颗粒的形状、表面纹理或聚集情况,图像分析是唯一能提供这种直接视觉证据的技术。

为您的目标做出正确的选择

根据您试图回答的具体问题来选择您的分析方法。

  • 如果您的主要重点是较大颗粒材料的常规质量控制: 筛分分析是最稳健、最直接且最具成本效益的方法。
  • 如果您的主要重点是对细粉、乳液或悬浮液进行高分辨率分析: 静态光散射(激光衍射)在广泛的尺寸范围内提供出色的速度和重现性。
  • 如果您的主要重点是表征纳米颗粒或胶体: 动态光散射是亚微米范围内精确测量的行业标准。
  • 如果您的主要重点是了解颗粒形状和形态: 直接图像分析提供了其他方法无法捕获的不可或缺的视觉数据。

通过将您的测量技术与您的材料和目标保持一致,您可以获得有关产品行为的精确且可操作的见解。

摘要表:

方法 最适合的粒度 关键优势
筛分分析 > 45 µm 对干性颗粒物稳健、经济高效
静态光散射 10 nm - 3 mm 快速、范围广、高重现性
动态光散射 < 1 µm 纳米颗粒和胶体的理想选择
图像分析 任何(基于显微镜) 直接测量尺寸和形状

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