说到元素分析，X 射线荧光 (XRF) 是最受欢迎的选择。
不过，也有一些替代技术可以提供有价值的见解。
这些替代技术包括光学发射光谱法 (OES) 和激光诱导击穿光谱法 (LIBS)。
光学发射光谱法和激光诱导击穿光谱法都可以分析工件，而无需进行大量的样品制备。
但与 XRF 相比，它们都有各自的局限性。
XRF 的替代方法是什么？3 种关键技术解析
1.光学发射光谱法 (OES)
OES 利用激发原子发出的光来确定材料的元素组成。
它尤其适用于检测低原子序数的元素。
OES 可以提供精确的定量分析。
不过，OES 需要火花来激发原子。
这种火花会对样品造成物理损坏。
因此，OES 不太适合用于无损检测。
2.激光诱导击穿光谱法（LIBS）
LIBS 使用高功率激光脉冲在样品表面产生微等离子体。
然后对微等离子体发出的光的光谱进行分析，以确定元素组成。
LIBS 的优势在于能够分析固体、液体和气体，而无需大量的样品制备。
不过，与 OES 一样，LIBS 也会因高能激光的冲击而在样品上留下痕迹。
3.X 射线荧光 (XRF)
XRF 仍然是许多应用的首选方法。
这是因为它具有非破坏性和广泛的分析能力。
XRF 可以在不改变样品物理特性的情况下对其进行分析。
这使其成为对材料完整性要求极高的行业的理想选择。
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