XRF （X 射线荧光）光谱法是一种用于确定材料元素组成的分析方法。这种技术的原理是将样品暴露在高能 X 射线下，使样品中的原子受到激发，发射出二次 X 射线或荧光 X 射线。每种元素都会发出独特的荧光 X 射线光谱，从而对样品中的元素进行识别和定量。
XRF 光谱机制：
该过程从 XRF 光谱仪开始，光谱仪由一个 X 射线源和一个检测器组成。X 射线源产生的 X 射线射向样品。与样品相互作用后，X 射线会激发原子，使其发射二次 X 射线。探测器捕捉到这些发射的 X 射线，然后对数据进行处理，生成光谱。光谱会显示与样品中元素相对应的峰值，每个峰值的高度表示相应元素的数量。元素范围和检测：
XRF 光谱法可分析从钠 (Na) 到铀 (U) 的各种元素。每种元素的检测水平根据激发电子可移动到的轨道的可用性而有所不同。检测水平的这种变化是由于每种元素独特的电子构型影响了它们发出荧光的能级。
样品制备：
有效的样品制备对 XRF 分析的准确结果至关重要。常用的方法包括压制颗粒，即使用液压机将样品压制成颗粒。这种方法能够保持样品的完整性，产生高质量的结果，而且相对快速、经济实惠，因此受到青睐。其他制备方法可根据分析的具体要求、所需结果质量、工作量和相关成本等因素进行权衡后选择。
样品制备的应用和重要性：
