XRF 或 X 射线荧光是一种用于元素分析的定量分析技术。它的工作原理是,当原子受到 X 射线等高能辐射时,其内部电子会被射出。这就在原子的内层外壳中产生了一个空位,然后由能量更高的外壳中的电子来填补。这两个外壳之间的能量差会以荧光 X 射线的形式发射出来,每种元素都有其特有的波长。通过测量这些波长,XRF 可以识别和量化样品中的元素。
详细说明:
-
激发原子:
-
在 XRF 分析中,样品暴露在 X 射线下。这些 X 射线具有足够的能量,可以将样品中原子内壳的电子置换出来。这种位移会在内壳中留下一个空位。发射荧光 X 射线:
-
为了恢复稳定性,能量较高的外壳中的电子会下降以填补内壳中的空位。两个外壳之间的能量差以荧光 X 射线的形式释放出来。这种发射是元素和相关能级所特有的,可用于识别元素。
-
检测和分析:
-
发射的荧光 X 射线由光谱仪检测,光谱仪测量其能量。每种元素都会产生独特的 X 射线光谱,从而可以识别样品中的元素。发射的 X 射线的强度可用于量化样品中每种元素的含量。样品制备:
XRF 分析的准确性在很大程度上取决于样品的制备。常见的方法包括制备固体样品、粉末或液体,每种方法都需要不同的制备技术,以确保 X 射线的均匀照射和准确的结果。制备方法的选择取决于样品类型和具体分析要求。