技术团队 · Kintek Solution

XRF （X 射线荧光）分析用于分析各种材料，包括固体样品、粉末样品和液体。固体样品通常包括金属、合金和废金属，而粉末样品通常包括粉碎的异质材料，如土壤、矿石和自动催化剂。常用 XRF 分析的液体样品包括石油产品。

固体样品：

固体样品需要一个平整干净的表面进行测量。这些样品的制备相对简单，重点是确保表面适合分析。XRF 光谱仪用于分析这些样品。光谱仪将 X 射线射向样品，当原子发生反应时会发射出二次 X 射线。对这些二次 X 射线进行检测和处理，生成光谱，显示样品中各种元素的存在和数量。粉末样品：

粉末样品（如土壤和矿石）通常通过粉碎材料来制备，以确保均匀性。为 XRF 分析制备这些样品的一种常见方法是制作压制颗粒。这种方法因其效率高、成本低和结果质量高而备受青睐。然后使用 XRF 光谱法对颗粒进行分析，用 X 射线轰击样品，测量产生的荧光辐射，从而确定元素组成。

液体样品：