XRF 或 X 射线荧光是检测元素的强大工具，但也有其局限性。其中一个主要局限是无法检测到原子序数很低的元素。通常，这些元素的原子序数低于钠（Na，原子序数 11）。
5 个主要限制说明
1.能级和检测
XRF 的工作原理是测量内壳电子被激发后回落到原始能级时发射的荧光 X 射线的能量。原子序数较低的元素的电子占据较低的能级。这些能级之间的能量差（相当于发射的 X 射线的能量）对于较轻的元素来说较小。这使得这些元素发出的 X 射线很难与本底辐射和其他噪声源区分开来。
2.穿透深度和原子量
XRF 分析通常对原子量较高的元素更有效，因为这些元素发射的 X 射线可以更深地穿透样品材料。较轻的元素更接近表面，更容易受到环境因素的影响，因此不太可能被准确检测到。X 射线的穿透深度与元素的原子量成反比，这意味着较轻的元素在样品中较深的位置较难检测到。
3.背景干扰
外层电子散射的 X 射线的连续背景会干扰对较轻元素特征 X 射线的检测。这种背景噪声会掩盖原子序数较低元素发出的较弱信号，使其难以被准确探测到。
4.低能量 X 射线
这些较轻元素发出的 X 射线能量太低，标准 XRF 设备无法有效检测。产生这种限制的原因是 X 射线的能量不够强，设备无法捕捉到。
5.环境因素
轻元素更容易受到温度和湿度等环境因素的影响，从而影响其检测。这使得使用 XRF 技术准确检测这些元素变得更具挑战性。
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