最常见的元素分析技术包括 X 射线荧光 (XRF)、光学发射光谱法 (OES) 和激光诱导击穿光谱法 (LIBS)。每种方法都有其独特的优势和应用，因此适用于各种分析需求。
X 射线荧光 (XRF)：
XRF 是一种非破坏性分析技术，用于确定材料的元素组成。它的工作原理是将样品暴露在高能 X 射线下，使样品中的原子受到激发并发射二次（或荧光）X 射线。这些发射的 X 射线是样品中存在的元素的特征，可用于识别和量化元素。由于 XRF 能够分析各种材料和元素，因此被广泛应用于地质学、冶金学和环境科学等各个领域。光学发射光谱法（OES）：
OES 是另一种用于元素分析的技术，尤其适用于金属和合金。它是通过热量或电弧激发样品中的原子，使其发出所含元素特有波长的光。然后用棱镜或光栅将光分散，测量每个波长的强度，从而确定每种元素的浓度。OES 对检测低浓度元素特别有效，通常用于制造行业的质量控制和流程控制。
激光诱导击穿光谱仪（LIBS）：
LIBS 是一种相对较新的技术，它使用高功率激光脉冲烧蚀样品表面的少量物质，形成等离子体羽流。然后对等离子体发出的光进行分析，以确定样品的元素组成。LIBS 的优势在于能够分析固体、液体和气体，而无需进行大量的样品制备。由于其便携性和快速分析能力，它通常用于采矿和环境监测等现场应用。
