从根本上讲,筛分分析是一种直接且广泛使用的技术,用于确定颗粒状材料的粒度分布。该方法的工作原理是将样品通过一系列网孔尺寸逐渐减小的筛子堆,然后称量保留在每个筛子上的材料量。这个过程有效地按尺寸对颗粒进行分类。
筛分分析提供了一种经济高效且可靠的粒度测量方法,但其结果对于特定尺寸范围内相对球形的颗粒最有意义。了解其操作原理和局限性对于准确解释至关重要。
基本原理:筛分分析如何工作
筛分分析,也称为粒度测试,基于简单的机械分离原理。将预先称量好的样品进行振动,使颗粒通过一系列筛网,直到它们被网孔太小而无法穿过的筛网截留。
筛子堆:网孔的层级结构
主要工具是筛子堆,这是一个嵌套筛子的柱体。最上面的筛子网孔最大,下面每个筛子的网孔尺寸逐渐减小。最底部放置一个实心底盘,用于收集最细的颗粒。
每个筛子都是一个具有特定尺寸均匀孔径的金属丝网或穿孔板。这些孔径的大小被称为网孔尺寸,是标准化的。
振动过程:确保颗粒通过
仅仅将材料放在筛子上是不够的。整个筛子堆被放置在机械振筛机中。该设备会摇动筛子堆,通常结合垂直敲击和水平圆周运动。
这种运动有两个目的:它能打散任何团聚的团块,并给每个颗粒多次机会找到一个可以穿过的孔。振动的持续时间和强度是关键参数,必须标准化以获得可重复的结果。
测量:称量截留的级分
振动完成后,将筛子堆拆开。小心地收集并称量保留在每个单独筛子上的材料。每个筛子上保留的重量加上底部底盘中的重量之和应非常接近初始样品重量。
这些重量的集合构成了粒度分布分析的原始数据。

结果解释:从原始数据到分布
原始重量数据被转换为粒度分布,从而全面了解材料的颗粒结构。
计算重量百分比
对于每个筛子,保留材料的重量以初始样品总重量的百分比表示。这可以告诉您落在该筛子与其上方筛子之间的尺寸范围内的颗粒百分比。
累积分布曲线
报告结果最常见的方法是使用累积分布曲线。该图表绘制了粒度(x轴,通常是对数坐标)与小于该粒度的累积百分比(y轴)之间的关系。
这条“通过百分比”或“更细百分比”曲线提供了材料级配的即时视觉摘要,显示它是粗粒、细粒还是级配良好(包含多种尺寸)。
关键指标:D10、D50 和 D90
从累积曲线上提取几个关键指标,用单个数字来总结分布:
- D50(中值): 50%(按重量计)的样品小于该粒径的粒径。它代表分布的中心点。
- D10(有效粒径): 10%的样品小于该粒径的粒径。这在岩土工程中常用于估算水力传导率。
- D90: 90%的样品小于该粒径的粒径。该值表示样品中最粗颗粒的尺寸。
了解权衡
尽管筛分分析功能强大,但它并非万能的解决方案。它的用途由明确的优势和显著的局限性所定义。
主要优势:简单性和成本效益
筛分分析是最便宜、最容易进行的粒度测定方法之一。设备坚固耐用,程序简单明了,对于许多质量控制应用(尤其是在建筑骨料、采矿和食品生产等行业)都能提供可靠的数据。
主要局限性:球形假设
一个关键的弱点是筛分不能测量颗粒的真实直径。一个细长的针状颗粒可以迎着端部穿过筛孔,因此其“筛分直径”对应于其第二大尺寸,而不是其最长尺寸。
这意味着对于非球形颗粒(例如薄片、针状物或棒状物),如果不谨慎解释,结果可能会产生误导。筛分最适用于大致等轴或球形的颗粒。
实用尺寸范围
筛分对于大于约 38 微米(μm)(对应于 400 目筛)的颗粒最有效。在此尺寸以下,静电力和内聚力会导致细颗粒团聚在一起,阻止它们有效地通过筛网。
对于更细的粉末和纳米材料,需要使用激光衍射或动态光散射 (DLS) 等替代方法。
常见陷阱:堵塞和超载
两个常见的操作错误可能会使结果无效:
- 筛孔堵塞(Blinding): 当颗粒卡在筛孔中,阻止其他颗粒通过时发生。这在接近筛孔尺寸的颗粒中很常见。
- 筛子超载: 当在筛子上放置的样品过多,导致颗粒没有机会接触到筛网表面时发生。
为您的应用做出正确的选择
选择正确的颗粒分析方法完全取决于您的材料和目标。
- 如果您的主要重点是对粗颗粒材料(例如沙子、谷物、塑料颗粒)进行常规质量控制: 筛分分析是一个出色、经济高效且可靠的选择。
- 如果您的主要重点是分析细粉、颜料或乳液(低于约 40 µm): 您必须使用激光衍射等替代方法以获得准确的结果。
- 如果您的主要重点是了解非球形颗粒的真实形状和尺寸: 筛分分析应辅以形状敏感技术,如自动图像分析或显微镜检查。
最终,了解筛分分析的基本原理和固有局限性是生成您可以信赖的数据的关键。
摘要表:
| 方面 | 描述 |
|---|---|
| 原理 | 使用网孔尺寸逐渐减小的筛子堆,通过机械方式按尺寸分离颗粒。 |
| 最适用于 | 具有相对球形颗粒的颗粒材料,通常大于 38 µm(例如沙子、骨料、谷物)。 |
| 关键指标 | D10、D50(中值)、D90 - 样品中分别有 10%、50% 和 90% 更细的粒径。 |
| 主要局限性 | 假设颗粒呈球形;对于薄片、针状物或极细粉末(< 38 µm)精度较低。 |
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