XRF （X 射线荧光）技术是一种非破坏性方法，用于测量各种基底上的镀金厚度。
这种方法精确度高、速度快，而且不需要任何有害化学物质或酸。
它非常适合用于珠宝制造、分析实验室和贵金属精炼厂等各行各业。
XRF 方法可测量 0.001μm 至 50μm 的镀金厚度，确保结果精确可靠。
5 大要点解析：是什么让 XRF 成为厚度测量的黄金标准？
1.XRF 技术基础
无损检测:XRF 分析是一种非破坏性方法，不会损坏样品。
它通过向样品中发射 X 射线，激发原子，使其发射荧光能量返回检测器。
厚度范围:最小检测厚度约为 1 纳米，最大约为 50 微米。
低于 1nm 时，特征 X 射线会被淹没在噪声信号中；超过 50μm 时，涂层厚度会导致饱和，从而无法进行精确测量。
2.仪器特点
准直器用途:准直器可将 X 射线导向样品并限制光斑大小，通过聚焦于特定的感兴趣区域来确保精确测量。
探测器类型:XRF 仪器使用比例计数器或半导体探测器，如硅漂移探测器（SDD）。
探测器的选择取决于具体需求和样品要求。
3.珠宝行业的应用
防伪检测:XRF 可用于区分真金和镀金首饰，确保首饰的真实性。
材料成分分析:它可以对贵金属、污染物甚至假宝石进行非破坏性分析，有助于避免欺诈行为并识别潜在的危险材料。
4.与其他方法的比较
与传统方法相比的优势:与硝酸检测法和火分析法相比，XRF 更简单、更快速、更准确。
它还避免了使用可能有害的刺激性化学物质。
符合 ASTM B568 标准:XRF 分析符合 ASTM B568 标准，可精确测量小至一微英寸（0.03 微米）的镀层厚度。
5.仪器类型
台式与手持式:台式 XRF 分析仪适用于小型部件和多层镀层的详细分析，而手持式仪器则是大型部件和在役检测的理想之选。
孔径技术:在机械准直器和毛细管光学器件之间做出选择取决于待分析部件的尺寸和涂层厚度。
总之，XRF 技术为测量镀金厚度提供了一种可靠而高效的方法，使其成为各行各业必不可少的工具。
其非破坏性、准确性和符合行业标准的特点使其成为质量控制和真实性验证的首选方法。
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