确定颗粒大小的最佳技术取决于分析的具体要求，包括材料的性质和颗粒的大小范围。最常用的方法包括筛分分析、直接图像分析（静态和动态）、静态光散射（激光衍射）和动态光散射。每种方法都有其优点和局限性，应根据分析的具体需要来选择方法。
筛分分析：
筛分分析是一种传统的、广泛使用的粒度分布测定方法，尤其适用于粒度从 125 毫米到 20 微米的固体颗粒。这种方法是将材料通过一叠筛孔逐渐变小的筛子。许多国家和国际标准都规定了筛分分析法，使其成为各行各业公认的标准化方法。它对不结块或不聚结的材料特别有效，而且可以进行干法或湿法分析。不过，对于小于 50 微米的颗粒，筛分分析可能就不那么有效了，可能需要使用其他技术。直接图像分析：
直接图像分析包括静态（SIA）和动态（DIA）分析，包括捕捉颗粒图像并对其进行分析，以确定粒度和形状。这种方法对于尺寸和形状是关键参数的颗粒特别有用。SIA 通常涉及静态图像，而 DIA 则捕捉运动中的颗粒，提供有关颗粒行为的更多信息。这种方法用途广泛，可用于各种尺寸和类型的颗粒。
静态光散射（SLS）/激光衍射（LD）：
静态光散射（SLS）通常称为激光衍射，它通过分析颗粒对激光束的散射方式来测量颗粒的大小。这种方法是非侵入式的，可以处理从亚微米到几毫米的各种粒度。对于需要进行快速、非破坏性分析的材料，这种方法尤其有用。激光衍射的自动化程度高，结果迅速，适合高通量应用。动态光散射（DLS）：
