在确定粒度分析的最佳技术时，有几个因素会发挥作用。这些因素包括材料的性质和颗粒的粒度范围。有几种常用的方法，每种方法都有自己的优势和局限性。方法的选择应符合分析的具体需求。
哪种技术最适合粒度测定？ 4 种主要方法详解
1.筛分分析
筛分分析是一种传统的、广泛使用的粒度分布测定方法。它特别适用于 125 毫米至 20 微米的固体颗粒。这种方法是将材料通过一叠筛孔逐渐变小的筛子。许多国家和国际标准都规定了筛分分析法，使其成为各行各业公认的标准化方法。它对不结块或不聚结的材料特别有效，而且可以进行干法或湿法分析。不过，对于小于 50 微米的颗粒，筛分分析可能就不那么有效了，可能需要使用其他技术。
2.直接图像分析
直接图像分析包括静态（SIA）和动态（DIA）两种，涉及捕捉颗粒图像并对其进行分析，以确定粒度和形状。这种方法对于尺寸和形状是关键参数的颗粒特别有用。SIA 通常涉及静态图像，而 DIA 则捕捉运动中的颗粒，提供有关颗粒行为的更多信息。这种方法用途广泛，可用于各种尺寸和类型的颗粒。
3.静态光散射（SLS）/激光衍射（LD）
静态光散射（SLS）通常被称为激光衍射，它通过分析颗粒散射激光束的方式来测量颗粒的大小。这种方法是非侵入式的，可以处理从亚微米到几毫米的各种粒度。对于需要进行快速、非破坏性分析的材料，这种方法尤其有用。激光衍射法自动化程度高，结果迅速，适合高通量应用。
4.动态光散射（DLS）
DLS 是一种用于确定悬浮液或液体介质中颗粒大小的技术。它测量颗粒的布朗运动，并利用这一信息计算颗粒大小。DLS 对纳米到微米范围内的颗粒特别有效，常用于对液体介质中的颗粒大小有严格要求的制药和生物应用领域。
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