为了识别元素，实验室采用了各种分析技术和仪器。
每种技术都有自己的原理和应用。
这些方法包括紫外分光光度法（UV）、原子吸收分光光度法（AAS）、原子荧光分光光度法（AFS）、原子发射分光光度法（AES）、电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）和 X 射线荧光光谱法（XRF）。
每种技术都具有独特的功能，适用于不同类型的分析。
这些分析从定性到定量不等。
它们还涵盖了从简单到复杂的样品成分。
5 种关键技术说明
1.紫外/可见分光光度计（UV）
原理:利用比尔定律测量样品对光的吸收率，该吸收率与其浓度成正比。
特点:灵敏度高、选择性好、准确度高、适用浓度范围广、分析成本低。
2.原子吸收分光光度计和荧光分光光度计
原子吸收光谱（AAS）:基于气态原子对光的吸收，导致外层电子从基态跃迁到激发态。
原子荧光光谱法（AFS）:测量原子在辐射刺激下发出的荧光强度。
原子荧光光谱仪的特点:灵敏度高、选择性好、操作简单、测量精度高。
原子荧光光谱仪的特点:检测限低、干扰少、仪器结构简单、线性范围宽。
3.原子发射分光光度计（AES）
原理:当电子从激发态返回基态时，原子会发出光。
特点:耐高温、检测限高、稳定性好、线性范围宽。
4.电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）
原理:电离样品成分，产生不同电荷质量比的离子，由质谱仪进行分析。
特点:质量测量范围宽、分辨率高、绝对灵敏度高。
5.5. X 射线荧光分光光度计（XRF）
原理:激发样品中的元素发射二次 X 射线，这是元素能量或波长的特征。
特点:无损检测、多元素检测，适用于材料科学和地质学。
XRF 中的硅漂移探测器（SDD）
功能:在 X 射线照射下发生电离，产生与样品中元素量成正比的电荷。
选择标准:SDD 具有更高的分辨率，不易受温度变化的影响，因此适用于复杂样品和低检测限。
XRF 的应用
材料科学和地质学:提供准确的元素含量数据，快速分析岩石和矿石的元素组成。
合金等级鉴定:能够鉴定 1,000 多种常见合金，并以不同的分析时间分析不同精度的贵金属。
这些技术共同实现了对各类样品中元素的全面分析。
它们支持多个科学和工业领域的研发工作。
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