说到元素分析，经常会提到两种技术：TXRF 和 EDXRF。
这两种技术都用于分析材料的元素组成，但它们的设置、灵敏度和应用领域各不相同。
4 个要点详解：TXRF 和 EDXRF 的区别？
1.XRF 的基本原理
XRF 概述:X 射线荧光 (XRF) 是一种非破坏性分析技术。
它通过用高能光子（X 射线）照射样品来确定材料的元素组成。
这将导致样品中的原子发出其元素所特有的二次 X 射线（荧光）。
检测机制:对发射的 X 射线进行检测和分析，以确定和量化样品中的元素。
每种元素都有一套独特的能级，从而产生独特的 X 射线发射能量。
2.TXRF 和 EDXRF 的区别
实验设置:
TXRF:采用全反射几何结构。
入射的 X 射线束以很低的角度（接近全反射的临界角）照射样品。
这种设置可最大限度地减少来自基底的背景噪声，从而提高检测痕量元素的灵敏度。
EDXRF:通常使用直接角或闪烁角几何形状。
X 射线束以较高的角度照射样品。
检测系统可以是能量色散型，也可以是波长色散型，具体取决于所用光谱仪的类型。
灵敏度和检测极限:
TXRF:灵敏度更高，检测限更低。
适用于极小样品量或超低浓度的痕量元素分析。
电离 X 射线荧光光谱仪:与 TXRF 相比，检测限通常更高。
它用途更广，更容易用于各种样品的常规分析。
3.应用和优势
TXRF 应用:
痕量元素分析:是检测和量化环境样品、生物液体和半导体材料中痕量元素的理想之选。
表面分析:由于采用全反射设置，TXRF 非常适合分析薄膜和表面层。
EDXRF 应用:
宽范围分析:用于冶金、地质、环境科学和材料科学等多个行业的常规和综合元素分析。
非破坏性测试:TXRF 和 EDXRF 都是非破坏性的，可在分析过程中保持样品的完整性。
4.实验室设备采购人员的实际考虑因素
仪器选择:
TXRF:如果需要高灵敏度的痕量元素和表面分析，请选择 TXRF。
请考虑专业设置和潜在的较高成本。
EDXRF:选择 EDXRF 进行通用元素分析，因为通用性和易用性是优先考虑的因素。
根据具体分析需求考虑光谱仪类型（能量色散型与波长色散型）。
维护和运行成本:
TXRF 和 EDXRF 都需要定期维护，以确保结果准确可靠。
请考虑运行成本，包括 X 射线管和探测器等消耗品，以及技术支持的可用性。
总之，虽然 TXRF 和 EDXRF 都是强大的元素分析工具，但它们的选择取决于具体的分析要求，如灵敏度、样品类型和应用领域。
实验室设备采购人员应仔细评估这些因素，选择最适合自己需求的技术。
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