X 射线荧光 (XRF) 分析是一种用于确定样品元素组成的技术。它的工作原理是用 X 射线轰击样品，并测量样品发出的荧光辐射的能量。荧光辐射的能量是样品中元素的特征，因此通过测量荧光辐射的能量，可以确定样品中含有哪些元素以及元素的比例。
KinTek xrf 压粒机是寻找一种快速简便的方法来制备用于 X 射线荧光分析或红外光谱分析的固体样品压粒的最佳选择。
该丸料压制机既能制备固体丸料，也能制备高渗透性丸料，因此适用于多种应用。此外，颗粒压制机的设计易于使用，因此您可以最大限度地利用您的样品。
切换分类
xrf 粒料压制机
货号 : PMXB
货号 : PMXS
货号 : PMXP
货号 : PMXA
货号 : PCKBR
使用 XRF 压片机时需要考虑以下几个因素：
- 样品大小和密度：样品的大小和密度将决定生产均匀片剂或颗粒所需的压力大小。
- 模具尺寸和形状：模具的尺寸和形状将决定生产出的片剂或颗粒的尺寸和形状。
- 压片力：压制力或施加在样品上的压力大小将影响片剂或颗粒的密度和强度。
- 压制时间：压制时间或样品受压时间的长短也会影响片剂或颗粒的密度和强度。
通过仔细控制这些因素，可以生产出适合 XRF 分析的均匀片剂或颗粒。
我们拥有最佳的 XRF 压片机解决方案。我们广泛的产品组合可提供适合任何预算的优质解决方案。无论您需要的是标准解决方案还是定制设计，我们都能满足您的要求。我们的模具由优质不锈钢制成，压制面平整光滑。我们提供一系列加载选项，以适应不同类型的样品，我们的电动压机具有一致性和可重复性。凭借可编程压制循环和其他先进功能，我们的 XRF 小球压片机解决方案将超出您的预期。
XRF 分析样品的制备方法
有几种常见的 X 射线荧光 (XRF) 分析样品制备方法，选择哪种方法取决于分析的具体要求以及所需的准确度和精确度水平。
最简单的样品制备方法之一是使用粉末状样品，无需额外制备。这种方法通常用于分析样品中浓度相对较高的元素，而且样品的形态已经适合 XRF 分析。
另一种常见的样品制备方法是将样品压制成颗粒状。这种方法通常用于分析样品中浓度较低的元素，因为颗粒状有助于浓缩元素，提高分析的灵敏度。当样品的形态不适合 XRF 分析时，如液体或具有复杂基质的固体，也经常使用这种方法。
第三种常见的样品制备方法是将样品熔成珠状。这种方法通常用于分析存在于复杂基质样品中的元素，因为珠状样品有助于消除干扰，提高分析的准确性。当样品的形态不适合 XRF 分析时，如具有异质结构的固体，也经常使用这种方法。
XRF 压粒机的应用：
- 食品分析
- 药品分析
- 分析工业生产中使用的废渣、矿石和填料
- 分析不易粘合或破碎的样品，可考虑使用蜡粘合剂
- 生成高质量的 XRF 分析结果
- 快速、低成本的样品制备方法
- 自动化操作简单、成本效益高，适用于产量较高的实验室
XRF 压丸机的优势：
- 对最轻元素具有高灵敏度
- 提高信噪比
- 减少背景散射
- 改进发射检测
- 避免样品污染
- 结果一致且可重复
- 可编程压制周期，实现最大程度的一致性
- 压缩样品自动加载功能
- 对于较轻的样品或帮助空气或气体逸出的样品，可逐步提升加载速度
- 自动化操作简单、成本效益高，适用于高通量实验室
FAQ
如何为 XRF 制备压制颗粒？
用于 XRF 分析的压制颗粒的制备方法是将样品研磨成细小颗粒，并与粘合剂或研磨助剂混合。然后将混合物倒入压模，在 15 至 35T 的压力下进行压制。最后得到的颗粒就可以进行分析了。在设计样品制备配方时，必须考虑样品的粒度、粘合剂的选择、样品稀释比例、压制时使用的压力以及颗粒的厚度。制备过程的一致性是确保结果准确和可重复的关键。
XRF 颗粒应承受多大的压力？
XRF 颗粒应在 15 至 40 吨的压力下压制 1-2 分钟，以确保粘合剂重新结晶，颗粒中没有空隙。液压机施加的压力应足以完全压缩样品。颗粒的厚度也很重要，因为在 X 射线面前它必须是无限厚的。使用小粒径（<50µm 或 <75µm）样品对于有效分析也很重要。这些因素会影响样品在压力下的结合程度，从而影响分析结果。
XRF 压球技术的优势是什么？
XRF 压球技术的优势在于它能产生信噪比更高的高质量结果，甚至可以检测到最轻的元素。如果不使用压制颗粒对元素成分进行定量分析，则会导致预期值与实际值之间存在很大差异。将样品研磨成细颗粒并压制成光滑平整的 XRF 颗粒可减少背景散射，提高对发射的检测。压制颗粒也相对较快、成本较低，适合高通量实验室进行简单而经济高效的自动化操作。
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