实验室的样品制备方法因分析技术和样品性质的不同而大相径庭。常见的方法包括用于 X 射线荧光光谱分析的粉末压制、用于扫描电子显微镜 (SEM) 的最低限度或精细的制备、精心选择研磨介质以避免污染，以及确保样品均匀性和灵敏度的精确技术。
用于 X 射线荧光光谱分析的粉末压制：
这种方法包括将样品粉碎、干燥、研磨至特定粒度，然后使用压制设备将其压制成稳定的圆盘。这一过程对于确保样品的均匀性和适合 X 射线荧光分析至关重要，因为样品的物理形态会极大地影响数据的质量。SEM 的样品制备：
对于扫描电子显微镜分析，准备工作从最简单的到最复杂的都有。最低限度的准备工作包括确保样品适合扫描电子显微镜腔体，并解决电绝缘样品上的电荷积聚问题。这通常需要根据分析要求，在此类样品上涂上一层薄薄的导电材料，如碳或金。例如，碳涂层更适合元素分析，而金属涂层则更适合高分辨率成像。另外，有些仪器可以在低真空条件下不使用导电涂层进行分析。
控制样品制备过程中的污染：
在使用样品粉碎机等设备时，必须注意避免研磨介质的污染。常见的研磨材料包括钢、碳化钨以及氧化铝和氧化锆等陶瓷，每种材料都有可能将特定元素引入样品中。研磨介质的选择应与分析元素相一致，以防止干扰。
提高样品质量：
