计算涂层厚度对于确保涂层的质量和耐久性至关重要。
为此,您需要考虑涂层类型、基体材料和适当的测量方法。
目前有多种技术可供选择,包括磁性、涡流、超声波和 X 射线荧光 (XRF)。
每种方法都有其原理和应用,可确保在不同条件下进行精确测量。
如何计算涂层厚度:6 种基本方法详解
1.磁性测量方法
磁力吸引原理:这种方法利用永磁体探头的吸力与磁钢距离之间的比例关系。此距离代表涂层厚度。
磁感应原理:它测量穿过涂层进入铁基体的磁通量。涂层越厚,磁通量越少,从而影响感应电动势。
2.涡流测量法
这种方法适用于导电金属上的非导电层。它包括在导电基体中产生涡流,涡流与涂层相互作用,从而确定涂层厚度。
3.超声波测量法
这种方法适用于各种材料,可监测管道和压力容器的腐蚀情况。它测量超声波脉冲穿过涂层并反射回来所需的时间。
4.X 射线荧光 (XRF) 测量法
XRF 对 0.001μm 至 50μm 的金属或合金涂层有效。它可以测量各种基质,包括金属、聚合物、陶瓷和玻璃。
台式与手持式 XRF:台式设备精度更高,适用于复杂的多层涂层,而手持式设备更便于携带,适用于大型部件。
5.干扰光谱法
这种方法适用于透明或薄膜。干涉光谱中的峰谷数量有助于计算薄膜厚度。表面粗糙度会影响精度。
6.千分尺法
这种方法需要进行两次测量:一次有涂层,一次无涂层。高度变化的差异表示涂层厚度。这种方法对粗糙表面特别有用。
每种方法都有其优点和局限性。选择哪种方法取决于涂层和基体的具体要求,以及所需的精度和便利性。
了解这些方法有助于为精确测量涂层厚度选择最合适的工具。
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