参考文献中提到的三种样品制备技术是
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XRF 分析中的稀释融合技术
- 摘要： 该技术包括使用四硼酸盐或钠或锂的碳酸盐等熔融手段稀释样品，以减少元素间效应和自吸收。
- 说明： 熔融技术对于 X 射线荧光 (XRF) 分析至关重要，在这种分析中，样品与四硼酸钠或碳酸锂等熔融剂混合。这一过程会稀释样品，通常稀释比例为 1:3 至 1:20，有助于最大限度地减少元素间效应和自吸收，从而提高分析的准确性。熔剂的选择取决于样品的成分和所分析的元素。
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用于 SEM 分析的涂层技术
- 概述： 在进行扫描电子显微镜（SEM）分析时，通常会在样品上涂一层导电材料，以防止电荷积聚。
- 解释： 在扫描电子显微镜分析中，电绝缘样品上会涂上一层薄薄的导电材料，如碳、金或其他金属。这种涂层对于防止电子束扫描过程中的电荷积累至关重要，否则会导致成像或分析失真。涂层材料的选择取决于分析的具体要求，如元素组成（元素分析用碳）或高分辨率成像（金属涂层）。
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红外光谱的 Mull 技术
- 概述： 在红外光谱分析中使用 Mull 技术，通过用闷凝剂制成稠糊状来制备固体样品。
- 解释： 在红外光谱分析中，使用 Mull 技术制备固体样品，将细碎的样品与 Nujol（一种木质化剂）混合，形成浓稠的糊状物。然后将这种糊状物涂抹在盐板上进行分析。这种方法非常有效，因为它能确保样品充分分散并对红外辐射透明，而这正是进行精确光谱分析所必需的。
这些技术凸显了根据所使用的分析技术定制样品制备方法的重要性，从而确保在最佳条件下获得准确可靠的结果。
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