要确定 XRD 分析的最佳粒度，关键是要考虑被分析材料的性质和 XRD 技术的具体要求。
理想的颗粒大小通常在 10 到 50 微米之间。
对于里特维尔德细化等高级分析，有必要进一步细化到 1 到 5 微米。
这可确保样品充分分散和均匀，从而获得准确且具有代表性的结果。
5 个要点解析：什么是 XRD 分析的粒度？
1.XRD 分析的最佳粒度
XRD 分析的理想平均粒度一般在 10 到 50 微米之间。
这一范围可确保样品研磨精细、均匀，从而获得精确的衍射图样。
对于更高级的分析，如里特维尔德细化，粒度应进一步减小到 1 至 5 微米。
更细的粒度可确保样品高度分散，并提供详细的结构信息。
2.均匀性和分散性的重要性
材料必须研磨成均匀的混合物，以获得整个样品的代表性结果。
这样可以防止样品的个别部分影响结果。
可使用高速研磨机或专门的实验室设备来达到所需的粒度（<75 μm）。
3.避免出现空洞并确保表面均匀一致
确保测试材料的颗粒之间没有空隙至关重要。
空隙可能表明材料研磨得不好，从而影响 XRD 分析的准确性。
粉末应具有平整、均匀的表面，以确保 X 射线能均匀地与样品相互作用。
4.与 XRF 分析的相关性
虽然所提供的参考文献提到了 XRF 分析，但确保样品均匀和避免空隙的原则也适用于 XRD 分析。
使用适当的消耗品和设备（如比色皿和薄膜）对 XRF 和 XRD 分析都很重要，可防止结果失真。
5.粒度分析方法
有多种方法可用于分析颗粒尺寸和分布，包括筛分分析、直接图像分析、静态光散射和动态光散射。
筛分分析是一种传统的方法，可以测量从 125 毫米到 20 微米的固体颗粒。
许多国家和国际标准都规定了这种方法。
通过确保样品研磨到最佳粒度且均匀，XRD 分析可提供有关材料结构特性的准确而详细的信息。
要获得可靠且具有代表性的结果，这种精心准备是必不可少的。
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