X 射线荧光 (XRF) 是一种非破坏性分析技术，用于确定材料的元素组成。
当材料暴露在高能 X 射线下时，材料中的原子会吸收这种能量并发射二次 X 射线，即荧光 X 射线。
每种元素都会以该元素特有的特定能级发射 X 射线，从而对样品中的元素进行识别和定量。
由于其准确性和非破坏性，这项技术被广泛应用于地质学、环境科学和材料科学等各个领域。
5 个要点详解：XRF 方法的原理是什么？
1.XRF 的基本原理
激发过程： 当样品暴露在高能 X 射线下时，样品中原子的内层电子被激发并从其轨道中射出。这会在电子壳中产生空位。
荧光发射： 这些空位随后会被更高能级的电子填满，这种转变以荧光 X 射线的形式释放能量。每种元素都有一套独特的能级，从而产生特有的荧光 X 射线光谱。
2.检测和分析
能量和波长测量： 利用探测器测量发射的荧光 X 射线的能量和波长。能量与样品中存在的元素直接对应。
定性和定量分析： 通过分析荧光 X 射线的能量和强度，可以确定样品中元素的存在和浓度。这需要将检测到的光谱与各种元素的已知光谱进行比较。
3.XRF 分析仪的组件
X 射线发生器： 产生高能 X 射线以激发样品中的原子。
样品台： 将样品固定在适当位置，以便 X 射线均匀照射。
荧光探测器： 捕捉样品发射的荧光 X 射线，并将其转换为电信号进行分析。
4.XRF 的应用
广泛的行业应用： XRF 可用于地质学中的矿物分析、环境科学中的污染监测、材料科学中的质量控制，以及其他许多对元素分析至关重要的领域。
无损检测： 由于 XRF 不会损坏样品，因此非常适合分析贵重文物、贵金属和其他需要保存的材料。
5.理论基础
莫斯利定律： 将荧光 X 射线的波长与元素的原子序数联系起来，为元素鉴定提供了理论依据。
布拉格定律： 用于波长色散 XRF 系统中晶体对 X 射线的色散，确保准确分离和检测不同波长的 X 射线。
定性和定量分析
定性分析： 根据荧光 X 射线的独特能量特征确定样品中的元素。
定量分析： 通过将荧光 X 射线的强度与标准样品或校准曲线进行比较，确定每种已识别元素的浓度。
通过了解这些关键点，实验室设备采购人员可以了解 XRF 技术的能力和局限性，从而就其在各种研究和工业环境中的应用做出明智的决定。
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