提供的文本中没有明确提及 XRD（X 射线衍射）分析所需的最低样品量，该文本主要讨论 XRF（X 射线荧光）分析。不过，对于 XRD 分析，可以从材料分析的一般做法中推断出样品制备和数量要求。通常情况下，对于 XRD 分析，只要将样品磨细并均匀地分布在样品架上，少量的样品（通常约 10-20 毫克）就足够了。X 射线衍射的关键要求是，样品的形状必须能让 X 射线穿透并与材料的晶体结构相互作用，这就是为什么通常要制备一层薄而平整的样品。
对于 XRD，样品制备包括将材料研磨成细粉，以确保晶体结构得到充分体现，并确保 X 射线能与大量晶体相互作用。这一研磨过程对于获得均匀的样品至关重要，而均匀的样品对于获得精确且可重复的 XRD 图样至关重要。然后将粉末铺在玻璃载玻片或样品架上，确保粉末均匀分布并压实，以尽量减少优先取向和厚度变化。
总之，虽然文中提到的 15 克特定量是用于 XRF 分析，但对于 XRD，更少的量，通常约 10-20 毫克磨细并均匀制备的样品就足够了。制备方法可确保样品的形状能够与 X 射线光束有效互动，这对于获得清晰、可解释的衍射图样至关重要。
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