要在 X 射线荧光 (XRF) 分析中获得最佳结果，样品材料的粒度是一个关键因素。
X 射线荧光分析的理想粒度通常为 75 μm 或更小。
颗粒越小，分散越均匀，分析的准确性和代表性就越高。
本详细指南将探讨粒度在 XRF 中的重要性、样品制备方法以及各种设备和耗材在获得精确结果方面的作用。
优化 XRF 分析需要考虑的 5 个关键因素
粒度在 XRF 分析中的重要性
发射强度:颗粒大小直接影响被测元素的发射强度。
较小的颗粒可确保混合物更加均匀，从而为整个样品提供具有代表性的结果。
避免空洞:适当研磨，使颗粒大小小于 75 μm，可确保颗粒之间没有空隙。
如果材料研磨不好，空隙会使结果失真。
XRF 的样品制备方法
无制备方法:直接使用粉末样品。
压制颗粒:常用，尤其是直径为 32 毫米或 40 毫米的圆形 XRF 颗粒。
APEX 400 压片机等自动化系统可提高样品吞吐量。
熔珠:另一种需要较小颗粒尺寸以确保均匀性的方法。
XRF 分析中的设备和消耗品
研磨设备:使用高速研磨机或专门的实验室设备来达到所需的粒度。
比色皿和薄膜:比色皿和薄膜的选择会影响结果。
选择不会扭曲 XRF 信号的材料至关重要。
XRF 模具和压力机:标准模具需要手动弹射颗粒。
APEX 400 等自动系统可提高效率。
探测器和准直器考虑因素
探测器选择:比例计数器和硅漂移探测器（SDD）是常见的选择。
根据分析需要，每种探测器都有特定的优势。
准直器尺寸:准直器的选择会影响光斑大小和测量精度。
选择合适的准直器尺寸对优化精度至关重要。
实际考虑因素和提示
样品一致性:粉末应干燥并具有面粉的稠度，以获得最佳结果。
表面积:XRF 分析通常需要较大的样品表面，通常为 32 毫米或 40 毫米。
这可确保全面的数据采集。
实验室设备的购买者和用户只要遵守这些准则并了解粒度在 XRF 分析中的关键作用，就能确保其 XRF 分析准确、可靠并能代表整个样品。
正确准备和选择设备与耗材是实现这些目标的关键步骤。
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