在进行 XRF（X 射线荧光）分析时，最佳粒度通常小于 75 微米。
这种细小的粒度可确保混合物的均匀性，这对于获得准确且具有代表性的结果至关重要。
颗粒越细，样品的一致性就越好，减少了可能影响分析的空隙或不均匀表面的可能性。
XRF 分析的粒度是多少？5 个考虑要点
1.均匀性
实现均匀的粒度分布对 XRF 分析至关重要。
这可确保样品能够代表整个被测材料。
如果样品中含有较大的颗粒，则可能无法准确反映整个材料的成分，从而导致分析中可能出现的误差。
2.表面积
颗粒尺寸越小，与 X 射线相互作用的表面积就越大。
表面积增大可提高 XRF 过程的效率。
更多的颗粒暴露在 X 射线束中，从而产生更强的信号和更精确的测量。
3.制备技术
XRF 常见的样品制备技术（如压制颗粒和熔珠）需要细粉。
这可确保样品正确附着并形成坚固、均匀的颗粒。
例如，地质样品通常含有坚硬的矿物质，需要将其研磨成细粉并与粘合剂混合，以促进颗粒的形成。
4.仪器兼容性
XRF 光谱仪通常要求按特定尺寸（如 32 毫米或 40 毫米直径的颗粒）制备样品。
确保合适的粒度有助于制备符合这些规格的样品。
这样可以优化与 XRF 设备的兼容性。
5.总结
保持小于 75 µm 的粒度对于有效的 XRF 分析至关重要。
它有助于提高样品的均匀性，增加表面积以更好地与 X 射线相互作用，并有助于正确制备样品以与 XRF 光谱仪兼容。
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