技术团队 · Kintek Solution

XRF（X 射线荧光）分析的最佳粒度通常小于 75 微米。这种细小的粒度可确保混合物的均匀性，这对于获得准确且具有代表性的结果至关重要。颗粒越细，样品的一致性就越好，减少了可能影响分析的空隙或不均匀表面的可能性。

解释：

1. 均匀性:实现均匀的粒度分布对 XRF 分析至关重要，因为它能确保样品代表整个被测材料。如果样品中含有较大的颗粒，则可能无法准确反映整个材料的成分，从而导致分析出现潜在误差。

2. 表面积:颗粒尺寸越小，与 X 射线相互作用的表面积就越大。表面积增大可提高 XRF 过程的效率，因为更多的颗粒会暴露在 X 射线束中，从而产生更强的信号和更精确的测量结果。

3. 制备技术:XRF 常见的样品制备技术（如压制颗粒和熔珠）需要使用细粉末，以确保样品正确附着并形成坚实、均匀的颗粒。例如，地质样品通常含有坚硬的矿物质，需要将其研磨成细粉并与结合剂混合，以促进颗粒的形成。

4. 仪器兼容性:XRF 光谱仪通常要求按特定尺寸制备样品（如直径为 32 毫米或 40 毫米的颗粒）。确保合适的粒度有助于制备符合这些规格的样品，优化与 XRF 设备的兼容性。

总之，保持小于 75 µm 的粒度对于有效的 XRF 分析至关重要，因为它有助于提高样品的均匀性，增加表面积以更好地与 X 射线相互作用，并有助于正确制备样品以与 XRF 光谱仪兼容。

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