技术团队 · Kintek Solution

XRF （X 射线荧光）是一种非破坏性分析技术，用于确定材料的元素组成。该程序包括用 X 射线轰击样品，并测量由此产生的荧光辐射，每种元素的荧光辐射都是独一无二的，从而确定样品中存在的元素。

样品制备：

1. XRF 分析的样品制备因样品类型而异：固体样品：
2. 这些样品需要一个平整干净的表面进行测量。准备工作通常包括确保表面无污染物且光滑。粉末样品：
3. 这些通常是粉碎的异质样品，如土壤、矿石和自动催化剂。制备过程包括将粉末均匀化，以确保其成分一致。液体：

如石油产品，可能需要特殊处理以防止污染并确保读数准确。

对于固体和粉末样品，常用的制备方法是压制颗粒。这需要使用液压机在高压下将样品压紧在两块压力板之间。这一过程可确保样品完全压实，保持其完整性，便于准确分析。

1. 分析过程：X 射线轰击：
2. 样品暴露在 X 射线下，X 射线会激发样品中的原子。测量荧光辐射：
3. 被激发的原子在返回基态时会发出荧光辐射。XRF 光谱仪可测量这种辐射。数据解读：

对每种元素产生的独特光谱进行分析，以确定样品的元素组成。样品制备的重要性：

高质量的样品制备对于获得一致可靠的分析结果至关重要。尽管 XRF 仪器不断进步，但样品制备仍然是 XRF 分析中最重要的误差来源。因此，确保高质量样品的技术和方法至关重要。

应用：