为 XRF(X 射线荧光)分析准备样品对于获得准确结果至关重要。
有几种方法可以制备样品,每种方法都有自己的优势和注意事项。
4 种基本方法说明
1.无需制备(粉末样品)
这种方法简单明了,只需最少的准备工作。
样品只需呈粉末状,然后直接进行分析。
这种方法适用于已经是细粉末状的样品,因为它不需要额外的处理。
2.压制颗粒
这种方法是将样品研磨成细粉(通常小于 75 微米),然后用模具和压力机将其压制成颗粒。
粘合剂的选择和压制过程中使用的压力是影响颗粒质量的关键因素,进而影响分析的准确性。
粘合剂有助于保持颗粒的完整性,应根据样品的成分和要分析的元素来选择。
3.熔珠法
这种方法较为复杂,通常用于难以造粒的样品或精度要求极高的样品。
将样品研磨成细粉,然后与有助于熔化样品的助熔剂(通常是硼酸盐混合物)混合。
然后将混合物加热,形成玻璃珠。
这种方法特别适用于含有其他形式难以分析的元素的样品,因为熔融过程可使样品均匀化,从而提高分析的准确性。
4.样品制备的主要考虑因素
颗粒大小:粒度越小越好,因为它们能提高样品的均匀性,这对准确分析至关重要。
粘合剂的选择:应根据样品的成分和所分析的元素来选择粘合剂。粘合剂不应干扰 XRF 分析。
样品稀释比:这对于确保样品中的元素浓度在 XRF 光谱仪的分析范围内非常重要。
加压使用的压力:压力会影响颗粒的密度和均匀性,进而影响分析质量。
颗粒厚度:厚度应足以吸收 X 射线,但又不能太厚,以免难以分析。
这些注意事项可确保样品制备达到 XRF 分析的特定要求,从而获得更准确、更可靠的结果。
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