XRF（X 射线荧光）分析的样品制备对于获得准确可靠的结果至关重要。
最常见的样品制备方法包括不制备（粉末样品）、压制颗粒和熔珠。
为减小粒度，可能还需要采取其他步骤，如粉碎和研磨，尤其是对于最初形态不适合分析的材料。
如何制备 XRF 样品？4 种基本方法说明
1.无需制备（粉末样品）
这种方法简单明了，只需最少的准备工作。
样品只需呈粉末状即可，如果材料已经细化，则适合使用这种方法。
这种方法简单快捷，但可能无法获得最均匀或最具代表性的样品，尤其是在粉末分散不均匀的情况下。
2.压制颗粒
对于压制颗粒，首先要将样品材料研磨成细粉，以确保均匀性。
通常会添加粘合剂，以帮助粉末颗粒在压制时粘合在一起。
然后将混合物放入颗粒模具中，施加高压，将粉末压制成固体圆盘。
这种方法提高了样品的均匀性和稳定性，使测量结果更加准确，可重复性更高。
3.熔珠
熔珠的制备过程更为复杂。
将样品研磨成细粉，并与助熔剂（通常是硼酸基材料）混合。
然后将混合物加热至高温，熔化助熔剂并加入样品颗粒。
然后将熔融混合物倒入模具中冷却，形成玻璃珠。
这种方法对高度异质或难熔材料特别有用，因为它能确保极佳的均匀性，并能加入各种类型的样品。
4.其他注意事项
颗粒大小： 减小粒度对所有方法都很重要，可确保均匀性并防止成分分离。
粘合剂的选择： 压制颗粒时粘合剂的选择会影响颗粒的完整性和均匀性。常见的粘合剂包括硬脂酸和蜡。
稀释比例： 根据样品中元素的浓度，可能需要进行稀释才能使浓度达到可测量的范围。
压制压力： 颗粒形成过程中使用的压力会影响密度，从而影响 XRF 分析的质量。
颗粒厚度： 颗粒或微珠的厚度会影响 X 射线的穿透深度，从而影响分析的准确性。
选择合适的样品制备方法取决于分析的具体要求，包括材料的类型、所需的精确度以及可用于制备的资源。
每种方法都有其优势和局限性，选择时应以分析任务的具体需求为指导。
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