筛分法粒度分析的缺点包括：由于可获得的粒度分数较多，因此分辨率有限；该方法仅限于干燥颗粒；最小测量限值为 50 微米；以及可能耗费时间。
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分辨率有限:筛分分析受到可获得的粒度分数数量的限制。标准筛堆通常最多由 8 个筛子组成，这意味着粒度分布仅基于 8 个数据点。这种局限性限制了粒度分布分析的详细程度和精确度，可能会遗漏颗粒分级中的重要细微差别。
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对干燥颗粒的限制:筛分分析方法仅适用于干燥颗粒。这是一个很大的限制，因为许多材料可能需要在不同的状态下（如潮湿或特定湿度条件下）进行分析。无法分析潮湿或湿润的样品会导致数据不准确或不完整，特别是对于在不同状态下表现不同的材料。
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最小测量限:该方法的最小测量限为 50 微米。这意味着小于 50 微米的颗粒无法使用筛分分析法进行精确测量。在制药或纳米材料等需要测量极细微颗粒的行业中，这一限制可能是一个重大缺陷，因此有必要使用激光衍射或电子显微镜等替代方法。
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耗时:筛分分析可能相当耗时，尤其是在处理大量样品或要求高精度时。在这一过程中，需要人工将材料筛过不同大小的筛网，然后称量每个筛网上残留材料的重量。这种手工操作和仔细测量的需要会延长分析时间，因此不太适合快速或高通量测试环境。
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出错的可能性:筛分分析中的潜在错误有几个来源，包括筛分技术不当、筛子堵塞以及假设所有颗粒都是球形或接近球形。非球形颗粒，如拉长或扁平的颗粒，可能无法得出可靠的质量结果，从而导致分析不准确。此外，该方法假定所有颗粒都是刚性的，在筛分过程中不会破裂，但事实并非总是如此。
总之，虽然筛分分析是一种传统的、广泛使用的粒度分布方法，但它有一些固有的局限性，会影响结果的准确性、精确性和适用性，尤其是在需要高分辨率和动态测试条件的现代工业和研究环境中。
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