知识 红外光谱中的错误是由什么引起的?掌握样品制备以避免常见错误
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技术团队 · Kintek Solution

更新于 2 周前

红外光谱中的错误是由什么引起的?掌握样品制备以避免常见错误

红外光谱中最常见的错误源于三个主要方面:不正确的样品制备、来自二氧化碳和水的大气干扰,以及不当的仪器操作(例如运行受污染的背景扫描)。这些因素比光谱仪本身的实际故障更容易导致不良结果。

要理解的核心原则是:高质量的红外光谱更多地取决于细致的技术,而不是仪器本身。通过掌握在您按下“扫描”之前如何制备和处理样品,几乎所有常见错误都是可以预防的。

主要因素:样品制备错误

样品引入仪器的处理方式是错误的单一最大来源。无论光谱仪多么先进,制备不当的样品都会产生误导性或完全无法解释的光谱。

过厚的样品膜

如果您正在分析盐片之间的液体或溶解的固体,样品膜必须非常薄。

过厚的样品会在某些频率下导致红外光束的完全吸收。这会导致宽阔的、平顶的峰值,透射率降至 0%,使得无法确定真实的峰形或位置。

水污染

水是非常强的红外吸收剂,也是常见的污染物。它可能存在于您的样品中、溶剂中,或被吸收到像溴化钾(KBr)这样的吸湿性材料中。

这种污染表现为一个非常宽阔、突出的峰,位于 3200-3500 cm⁻¹ 附近,很容易掩盖样品中实际的 O-H 或 N-H 拉伸信号。务必使用干燥的溶剂和材料。

研磨不完全(KBr 压片)

当使用溴化钾(KBr)压片制备固体样品时,样品必须研磨成细小、均匀的粉末。

如果颗粒太大,它们会散射红外光而不是吸收它。这种现象被称为克里斯琴森效应 (Christiansen effect),会导致失真的、倾斜的基线,并可能使细微的峰变得难以识别。

样品浓度不正确

样品过多会导致前面提到的饱和、平顶峰。

相反,样品过少会产生信号非常弱、信噪比低的光谱。由此产生的峰可能难以与基线噪声区分开来。

残留溶剂

如果固体样品溶解在溶剂中但未完全干燥,溶剂将出现在光谱中。

强烈的溶剂峰(例如来自丙酮或乙醇的峰)很容易压倒您实际样品的峰,导致错误的解释。

与环境和仪器相关的问题

即使样品制备完美,实验室环境或简单的操作失误也可能影响您的结果。

大气干扰

样品室内的空气含有二氧化碳 (CO₂) 和水蒸气,它们都会吸收红外辐射。

CO₂ 出现在 2350 cm⁻¹ 附近的特征性的尖锐、强烈的双峰中。水蒸气则表现为一系列许多尖锐、微弱的旋转线,主要来自 3500-3900 cm⁻¹ 和 1600 cm⁻¹ 附近。

“脏”的背景扫描

红外光谱仪的工作原理是将样品扫描与背景扫描(空仪器扫描)进行比较。

如果您的背景扫描是在盐片或 ATR 晶体上有污染物(如溶剂残留物)时运行的,那么这些污染物将以反转或负峰的形式出现在您的最终样品光谱中。这是背景扫描不佳的明确迹象。

如何将这些应用于您的分析

掌握红外光谱学在于培养系统化和干净的工作流程。仪器很精确,但它会精确地测量您引入的任何错误。

  • 如果您的主要重点是分析液体: 确保您的样品在干净的盐片之间形成几乎看不见的、毛细管般薄的薄膜;样品过多是最常见的失败点。
  • 如果您的主要重点是使用 KBr 分析固体: 使用干燥的 KBr,将样品和 KBr 一起研磨成面粉状粉末,并确保您的压片是透明的,而不是浑浊的。
  • 对于任何分析: 务必在样品扫描之前立即运行新的背景扫描,以准确扣除大气中的 CO₂ 和水蒸气。

以与光谱解释同等的细心对待样品制备,您将持续获得干净、可靠和准确的结果。

总结表:

常见错误来源 关键问题 如何避免
样品制备 过厚的薄膜、水污染、研磨不当 使用薄膜、干燥的材料、精细研磨
大气干扰 CO₂ (~2350 cm⁻¹) 和水蒸气峰 运行新的背景扫描
仪器操作 受污染的背景扫描 在背景测量前清洁光学元件

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