X 射线荧光 (XRF) 分析是确定材料化学成分的有力工具。
不过，XRF 分析结果的准确性在很大程度上取决于样品的制备程度。
以下是四种最常见的 XRF 分析样品制备方法。
如何制备 XRF 样品？4 种基本方法详解
1.无需制备（粉末样品）
这种方法是使用未加工的粉末状样品，无需任何额外制备。
这是最简单的方法，但由于样品中可能存在不均匀性，因此不一定能得到最高质量的结果。
2.压制颗粒
在这种方法中，将粉末状样品放入模具中，使用高压液压机进行压缩。
这一过程可将样品压制成颗粒状，确保元素分布更加均匀，提高分析质量。
制备过程包括将样品研磨成细粉，以确保均匀性和适当的压实。
3.熔珠
这种方法较为复杂，需要在铂金坩埚中高温熔化样品与助熔剂（通常是硼酸盐混合物）。
然后将熔融混合物倒入模具中，形成玻璃珠。
这种技术特别适用于高抗性或不均匀的材料，可提供非常均匀的样品进行分析。
初始样品材料的粒度较小，有助于熔融过程，确保形成更均匀的珠状物。
4.其他预制备步骤
在这些初级制备方法之前，根据原始样品的粒度和材料类型，可能还需要额外的步骤。
这些步骤通常包括使用研磨或粉碎等方法减小颗粒尺寸，这有助于压制颗粒和熔珠实现更好的均匀性和压实性。
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