XRF 或 X 射线荧光是一种迷人的技术，可以帮助我们了解材料中存在的元素。它通过使用高能 X 射线与样品中的原子相互作用来实现这一目的。下面将详细介绍它的工作原理。
XRF 的基本理论是什么？5 个要点说明
1.X 射线与原子的相互作用
当样品受到高能 X 射线照射时，这些射线会与样品中原子的内部电子相互作用。
如果 X 射线的能量足够大，就会将一个电子从一个内部电子壳（通常是 K 壳或 L 壳）中抛射出来。
这种抛射会在内层电子壳中留下一个空位，从而使原子处于不稳定的状态。
2.发射特征 X 射线
为了恢复稳定，一个较高能级（外壳）的电子落入内壳的空位。
两个能级之间的能量差以 X 射线光子的形式释放出来。这种光子具有特定的能量，这是发射它的元素所特有的。
每种元素都有独特的能级，因此发射出的 X 射线具有元素特异性，可用于识别样品中的元素。
3.检测和分析
发射的 X 射线由 X 射线源和检测器组成的 XRF 光谱仪检测。
探测器测量发射出的 X 射线的能量和强度。
检测到的 X 射线会产生光谱，显示与样品中元素对应的能量峰。这些峰值的高度与元素的浓度相关。
现代 XRF 光谱仪灵敏度高且稳定，可提供准确可靠的元素分析。
4.样品制备
样品制备对于精确的 XRF 分析至关重要。
常见的方法包括制作压制颗粒或将样品匀浆成细粉。
适当的制备可确保样品均匀地暴露在 X 射线束中，并获得一致的结果。
5.应用和局限性
XRF 广泛应用于各行各业的原材料和成品的质量控制和分析。
它可以分析从钠（Na）到铀（U）的各种元素。
虽然 XRF 是非破坏性的，能够进行批量分析，但它确实需要仔细制备样品，而且在检测极低浓度的某些元素时可能会受到限制。
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