了解 X 射线荧光 (XRF) 和 X 射线衍射 (XRD) 技术之间的区别对于任何从事材料分析的人来说都至关重要。
这两种技术用于收集不同类型的材料信息，每种技术都有其独特的应用和优势。
了解 XRF 和 XRD 技术差异的 5 个要点
1.操作方法
XRF 的工作原理是用 X 射线轰击样品，使样品发出荧光辐射。
而 XRD 则根据布拉格定律，利用 X 射线分析材料的晶体结构。
2.提供的信息类型
XRF 主要用于确定材料的元素组成。
XRD 用于确定材料晶体结构的特征。
3.应用
XRF 无破坏性，可分析散装材料，因此适用于金属合金的质量控制、汽油中硫的分析以及塑料和电子产品中重金属的检测。
XRD 特别适用于研究材料内部原子排列的有序或无序程度，并可用于表面敏感分析，因此适合表征薄膜和其他纳米结构材料。
4.样品制备
XRF 的样品制备通常需要使用液压机制作一般的样品颗粒，以保持样品的完整性。
XRD 除了要确保样品的形式可以进行分析之外，通常不需要大量的样品制备工作。
5.适应性
XRF 用途广泛，适用于各种材料和形式。
XRD 可利用掠入射技术 (GIXRD) 进行表面敏感性分析，使其适用于分析纳米尺度的结构。
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