XRF (X 射线荧光)分析的样品尺寸通常包括制备直径为 32 毫米或 40 毫米的样品表面。这种尺寸是首选,以确保有足够的面积进行精确测量。制备方法因样品类型而异,固体样品要求表面平整干净,而粉末样品和液体可能需要不同的处理方法,以确保均匀性和准确分析。
固体样品:
对于固体样品,首要的要求是有一个平整干净的测量表面。这一点至关重要,因为 XRF 技术依赖于 X 射线与样品表面的相互作用。样品尺寸通常标准化为 32 毫米或 40 毫米,以适应分析设备,确保 X 射线能均匀地与材料相互作用。固体样品的制备包括确保样品表面没有可能干扰 X 射线测量的污染物和不规则物。粉末样品和液体:
粉末状样品,如土壤、矿石和自动催化剂,通常需要研磨到细小的粒度(<75 微米),以确保均匀性。这一点非常重要,因为 XRF 分析对样品成分的变化非常敏感。对于液体,制备过程可能需要过滤,以去除可能影响分析的任何悬浮固体。在某些情况下,粉末样品会与助熔剂混合并加热至高温,以产生熔珠,从而提供更均匀的分析样品。不过,这种方法会稀释微量元素,可能会影响对次要成分的检测。
样品制备设备: