在进行 XRF（X 射线荧光）分析时，样品尺寸是一个关键因素。
通常情况下，样品表面的直径应为 32 毫米或 40 毫米。
选择这种尺寸是为了确保有足够的面积进行精确测量。
根据样品类型的不同，制备方法也有所不同。
1.固体样品
对于固体样品，首要要求是测量表面平整干净。
这一点至关重要，因为 XRF 技术依赖于 X 射线与样品表面的相互作用。
样品尺寸通常标准化为 32 毫米或 40 毫米，以适合分析设备。
确保 X 射线能均匀地与材料相互作用至关重要。
固体样品的制备包括确保样品表面没有污染物和不规则物。
2.粉末样品和液体
粉末状样品，如土壤、矿石和自动催化剂，通常需要研磨至细颗粒尺寸（小于 75 微米），以确保均匀性。
这一点非常重要，因为 XRF 分析对样品成分的变化非常敏感。
对于液体，制备过程可能需要过滤，以去除可能影响分析的任何悬浮固体。
在某些情况下，粉末样品会与助熔剂混合，并加热至高温以形成熔珠。
这种方法可提供更均匀的分析样本。
不过，这种方法会稀释微量元素，可能会影响对次要成分的检测。
3.样品制备设备
样品制备设备的选择取决于分析的具体要求。
例如，对于需要高压（高达 20 吨）以确保样品致密均匀的药品，可使用手动 XRF 压片机。
所使用的设备必须能够按照要求的规格制备样品。
这包括适当的样品大小和表面状况。
4.总结
总之，用于 XRF 分析的样品尺寸通常标准化为 32 毫米或 40 毫米。
根据样品类型和分析要求选择具体的制备方法。
正确的制备对于确保准确可靠的结果至关重要。
平衡高质量结果的需求与样品制备的工作量和成本至关重要。
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