XRF （X 射线荧光）技术可以测量厚度约为 0.001μm 至 50μm 的金属或合金涂层。
该技术可以精确测量各种基底（包括金属、聚合物、陶瓷和玻璃）上的单层和多层涂层。
测量可使用台式或手持式 XRF 仪器。
台式和手持式仪器的选择取决于部件的尺寸和具体的应用要求。
4 个要点说明：XRF 镀层有多厚？
1.XRF 测量的厚度范围
XRF 技术可测量厚度从 0.001μm 到 50μm 的镀层。
这一范围既包括极薄的涂层，也包括较厚的涂层，从而使 XRF 成为各种应用的通用方法。
2.XRF 仪器的类型
台式 XRF 光谱仪： 专为测量小部件或大部件特定区域的涂层厚度和成分而设计。
它们可配置高精度电动样品台、可调照明和可变焦相机，以获得清晰的成像。
手持式 XRF 仪器： 更加便携，适合测量无法放入台式样品室的大型部件。
它们是在役检查和供应链监控的理想选择。
3.孔径技术
准直器和毛细管光学器件： 它们用于台式 XRF 光谱仪，以限制 X 射线束的大小，从而影响测量的准确性和精确度。
准直器和毛细管光学器件的选择取决于工件的尺寸和涂层厚度。
4.涂层厚度对测量的影响
对于较薄的涂层，电镀材料和基体都可以精确测量。
但是，随着涂层厚度的增加，由于涂层对 X 射线的衰减，基体强度会降低。
表面粗糙度会影响 XRF 测量的准确性。
带有电动样品台的台式 XRF 仪器可以扫描一个区域以提供平均厚度值，这对表面不平整的样品特别有用。
校准标准： 根据不同的应用，可使用薄膜标准和整体标准。
薄膜标准具有灵活性，而整体标准则更加坚固耐用，与实际部件非常相似。
仪器认证： XRF 仪器应每年校准一次，以确保测量准确可靠。
这包括检查分析组件、电子元件和机械部件。
样品聚焦： 正确的聚焦对于保持 X 射线管、样品和检测器之间的固定距离至关重要。
不正确的聚焦会导致测量不准确。
部件放置： 部件的方向会影响测量结果。
正确的对齐可确保准确的数据采集。
XRF 分析通常需要较大的样品表面，通常为 32 毫米或 40 毫米。
这可确保更好的覆盖范围和更准确的结果。
通过了解这些关键点，实验室设备采购人员可以做出明智的决定，选择适合其特定需求的 XRF 仪器，确保准确可靠地测量涂层厚度。
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