XRF （X 射线荧光）方法涉及使用 X 射线荧光光谱仪分析材料的元素组成。分析方法是使用初级 X 射线激发材料中的原子，然后这些原子发射出具有元素特征的次级 X 射线（荧光）。分析可以是定性的，即确定元素；也可以是定量的，即确定这些元素的浓度。根据发射的 X 射线的分散和检测方式，XRF 方法可分为波长分散法和能量分散法。
1.波长分散 XRF（WDXRF）：
这种方法使用晶体光谱仪按波长分离荧光 X 射线。每种元素都以特定的波长发射 X 射线，然后对其进行检测和分析，以确定样品中存在的元素。WDXRF 具有高分辨率和高灵敏度，适合进行详细的元素分析。2.能量色散 XRF（EDXRF）：
在这种方法中，半导体探测器用于直接测量荧光 X 射线的能量。这样就可以同时检测多种元素，而无需移动部件，从而提高了分析的速度和简便性。EDXRF 更便于携带，用途更广，非常适合现场应用和快速筛选。
3.便携式 XRF 分析仪：
这些设备是手持式的，具有移动性和自主性，可进行现场实时分析，无需建立实验室。它们特别适用于对即时结果要求较高的行业，如金属回收、环境监测和制造业的质量控制。4.XRF 的技术进步：
最近的进步包括多层薄膜晶体的开发，其探测范围扩大到包括铍、硼、碳、氮和氧等轻元素。X 射线管功率、准直和探测器技术的改进也提高了现代 XRF 光谱仪的灵敏度和检测范围。
5.样品制备：
