X 射线荧光 (XRF) 是一种非破坏性分析技术，用于确定材料的元素组成。
它的工作原理是，当材料暴露在高能 X 射线下时，材料中的原子会被激发，并发射出具有元素特征的特定能量的二次（或荧光）X 射线。
然后对这些发射的 X 射线进行分析，以确定材料中的元素及其浓度。
5 个要点说明
1.激发原子
当样品暴露在高能 X 射线下时，样品中的原子会吸收这些 X 射线的能量。
这种能量足以将原子的内壳电子射出。
这一过程被称为激发。
2.发射荧光 X 射线
电子被激发后，原子处于不稳定状态。
为了恢复到稳定状态，一个来自更高能级的电子会填补被射出电子留下的空位。
两个能级之间的能量差以荧光 X 射线的形式释放出来。
每种元素都有一套独特的能级，因此发射的 X 射线是样品中特定元素的特征。
3.检测和分析
发射的荧光 X 射线由 XRF 光谱仪检测。
测量这些 X 射线的能量，由于每种元素都以特定的能量发射 X 射线，因此可以确定样品中存在的元素。
还可以测量发射的 X 射线的强度，从而确定样品中每种元素的浓度。
4.非破坏性分析
XRF 的一大优势是它是一种非破坏性技术。
这意味着可以在不改变或破坏样品的情况下对其进行分析，这对于贵重或稀有材料尤其有用。
5.样品制备
虽然 XRF 在样品制备方面相对宽松，但这对获得准确的结果仍然至关重要。
固体样品需要一个平整、干净的表面进行测量，而粉末样品通常需要均质化并压制成颗粒。
液体样品也可以直接进行分析。
正确的样品制备可确保 X 射线与样品均匀互动，从而获得可靠、可重复的结果。
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