用于 XRF(X 射线荧光)分析的样品尺寸通常要求样品表面直径为 32 毫米或 40 毫米。这种尺寸对于确保结果的准确性和代表性十分必要,因为它可以让足够大的样品面积暴露在 X 射线束下。
固体样品的样品制备:
对于固体样品,制备过程包括研磨样品以获得均匀的混合物。XRF 分析的最佳粒度小于 75 微米。这种细粒度可确保样品均匀分布,当粉末倒入比色皿进行测量时,颗粒之间不会出现空隙。样品应形成平整、均匀的表面,这对准确分析至关重要。液体样品的样品制备:
与固体样品不同,液体样品不需要研磨。XRF 方法能够直接测量液体样品,而无需将其转化为固体形式。之所以可以直接测量,是因为 XRF 对聚集状态不敏感,因此是一种适用于各种类型样品的通用技术。
选择正确的样品制备方法:
样品制备方法的选择取决于被分析材料的类型和分析的具体要求。例如,食品样品在制备过程中可能只需要 2-4 吨的压力,而矿石则可能需要高达 40 吨的压力。如果需要更好的均质化,则需要使用熔珠。这种技术是将研磨样品与助熔剂混合并加热至高温,但可能会稀释微量元素并影响其检测。
设备和样本量: