扫描电子显微镜（SEM）要求在非导电样品上镀金，主要是为了防止带电，并提高信噪比，从而改善图像质量。下面是详细解释：
防止带电：
非导电材料在扫描电镜中暴露于电子束时，会积累静电场，导致样品带电。这种充电会使电子束偏转，导致图像失真，并可能损坏样品。在样品上镀金等导电材料有助于消散这些电荷，确保样品在电子束下保持稳定。提高信噪比：
- 与许多非导电材料相比，金具有较高的二次电子产率。在非导电样品上镀金后，发射的二次电子会增加，从而增强扫描电镜检测到的信号。相对于背景噪声，信号强度的增加会使图像更清晰、更细致。薄薄的一层金（通常为 2-20 纳米）足以显著提高成像能力，而不会明显改变样品的表面特征。实际考虑因素：
- 涂层厚度和晶粒尺寸： 金涂层的厚度及其与样品材料的相互作用会影响涂层的晶粒尺寸。例如，在标准条件下，金或银的晶粒大小预计为 5-10 纳米。
- 均匀性和覆盖率： 溅射镀膜技术可实现大面积的均匀厚度，这对整个样品的一致成像至关重要。
选择用于 EDX 分析的材料：
- 如果样品需要进行能量色散 X 射线 (EDX) 分析，则必须选择不会干扰样品元素组成的涂层材料，以避免光谱重叠。溅射镀膜的缺点：
- 设备复杂： 溅射镀膜需要专业设备，这些设备可能既复杂又昂贵。
- 沉积速度： 过程可能相对较慢。
温度影响：
基底可能会经历高温，这可能对某些样品不利。
