要制备用于 XRF（X 射线荧光）分析的样品，最常见的方法包括不制备（粉末样品）、压制颗粒和熔珠。根据原始样品的初始状态，可能需要额外的步骤来减小其粒度，以方便这些制备方法。
无需制备（粉末样品）： 这种方法简单明了，只需最少的制备步骤。样品只需呈粉末状即可，适合 XRF 直接分析。这种方法快速、经济，但可能无法提供最高的精度，尤其是在无法确保样品均匀性的情况下。
压制颗粒： 这种方法需要将样品研磨成细粉。然后将粉末样品与粘合剂（如 X 射线粉末）混合，以增强其凝聚力。将混合物放入颗粒模具中，在高压（通常在 15 至 40 吨之间）下压缩，形成固体颗粒。这种方法提高了样品的均匀性，并提高了 XRF 分析的精确度。
熔珠法： 这种方法较为复杂，需要在铂坩埚中高温熔化粉末样品和助熔剂。然后将熔融混合物倒入模具中冷却并凝固成玻璃珠。这种方法特别适用于难以造粒的样品或实现高精度分析的样品。
在制备 XRF 分析样品时，必须考虑以下几个因素，以确保分析结果的准确性：
- 粒度： 将粒度减小到细粉末状可确保更好的均匀性和更精确的分析。
- 粘合剂的选择： 制备颗粒时使用的粘合剂必须与样品兼容，并且不会干扰 XRF 分析。
- 样品稀释比例： 适当的稀释可确保样品浓度在 XRF 光谱仪的分析范围内。
- 压制压力： 正确的压力可确保颗粒致密均匀，这对精确的 XRF 分析至关重要。
- 颗粒厚度： 厚度应足以吸收 X 射线，但又不能太厚，以免过度衰减信号。
仔细考虑这些因素，并根据样品的特性和所需的分析精度选择适当的制备方法，就能确保 XRF 分析获得准确可靠的结果。
通过 KINTEK SOLUTION 先进的样品制备工具，您可以发现 XRF 分析所需的精度。从用于快速评估的简单免制备选项，到用于高精度结果的复杂熔珠技术，我们的产品应有尽有。请相信我们的材料和专业知识，我们可以优化您的粒度、选择完美的粘合剂并获得均匀的颗粒--所有这些都是为提高 XRF 分析的准确性而量身定制的。与 KINTEK SOLUTION 合作，获得卓越的样品制备解决方案和可靠的结果。现在就开始获得更精确的 XRF 分析结果吧！
