制备用于 XRF（X 射线荧光）分析的样品涉及多种方法，每种方法都有自己的步骤和注意事项。
5 种主要方法说明
1.无需制备（粉末样品）
这种方法简单明了，只需最少的准备工作。
样品只需呈粉末状，适合 XRF 直接分析。
这种方法快速、经济，但可能无法提供最高的精确度，尤其是在无法确保样品均匀性的情况下。
2.压制颗粒
这种方法需要将样品研磨成细粉。
然后将粉末样品与粘合剂（如 X 射线粉末）混合，以增强其内聚力。
将混合物放入颗粒模具中，在高压（通常在 15 至 40 吨之间）下压缩，形成固体颗粒。
这种方法提高了样品的均匀性，并提高了 XRF 分析的精确度。
3.熔珠
这种方法比较复杂，需要在铂坩埚中高温熔化粉末样品和助熔剂。
然后将熔融混合物倒入模具中冷却并凝固成玻璃珠。
这种方法特别适用于难以造粒的样品，或实现高精度分析的样品。
4.粒度
将粒度减小至细粉末可确保更好的均匀性和更精确的分析。
5.粘合剂的选择
制备颗粒时使用的粘合剂必须与样品兼容，并且不会干扰 XRF 分析。
6.样品稀释比例
适当的稀释可确保样品浓度在 XRF 光谱仪的分析范围内。
7.压制压力
正确的压力可确保颗粒致密、均匀，这对精确的 XRF 分析至关重要。
8.颗粒厚度
颗粒的厚度应足以吸收 X 射线，但又不能太厚，以免过度衰减信号。
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