在进行 XRF（X 射线荧光）分析时，所需的样品量会因多种因素而异。
XRF 需要多少样品？需要考虑的 4 个关键因素
1.样品大小和制备
光谱仪要求： 第一步是确认光谱仪的样品制备需求。
XRF 光谱仪通常要求以特定尺寸制备样品，通常是直径 32 毫米或 40 毫米的颗粒。
这些尺寸是 XRF 分析的标准尺寸，因为它们适合大多数 XRF 光谱仪的样品架。
粒度： 样品的粒度对准确分析至关重要。
样品必须研磨成细粉，颗粒大小最好小于 75 μm。
这样可以确保样品均匀，减少颗粒之间出现空隙的风险，并为分析提供一个平整、均匀的表面。
均匀性至关重要，因为 XRF 可测量样品的元素组成，而元素分布不均会导致结果不准确。
2.样品制备技术
研磨： 使用高速研磨机或其他专用实验室设备对样品进行研磨，直至达到最佳粒度。
这一过程有助于获得具有代表性的样品，准确反映整个样品的成分。
颗粒制备： 然后将研磨好的样品倒入比色皿中压制成颗粒。
重要的是，颗粒之间不能有空隙，粉末表面要平整均匀。
这种制备方法可确保 X 射线与样品均匀互动，从而获得可靠的分析结果。
3.液体样品
XRF 分析也可以在液体样品上进行。
在这种情况下，通常将样品直接倒入光谱仪，无需研磨或压制成颗粒。
不过，液体样品的表面积应足以覆盖光谱仪的测量区域，测量区域的直径通常为 32 毫米或 40 毫米。
4.总结
XRF 分析所需的样品量受 XRF 光谱仪的具体要求和样品本身性质的影响。
要获得准确可靠的结果，必须进行适当的制备，包括研磨到正确的粒度并制成适当直径的颗粒。
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