XRF（X 射线荧光）分析所需的样品量取决于多个因素，包括 XRF 光谱仪样品架的尺寸、样品的粒度以及分析的具体要求。通常情况下，圆形 XRF 颗粒的常用尺寸为直径 32 毫米或 40 毫米。样品应研磨至粒度小于 75 μm，以确保混合物均匀，结果准确。
详细说明：
-
样品尺寸和制备：
- 光谱仪要求： 确定所需样品量的第一步是确认光谱仪的样品制备需求。XRF 光谱仪通常要求按特定尺寸制备样品，通常是直径为 32 毫米或 40 毫米的颗粒。这些尺寸是 XRF 分析的标准尺寸，因为它们适合大多数 XRF 光谱仪的样品架。
- 粒度： 样品的粒度对准确分析至关重要。样品必须研磨成细粉，颗粒大小最好小于 75 μm。这样可以确保样品均匀，减少颗粒之间出现空隙的风险，并为分析提供一个平整、均匀的表面。均匀性至关重要，因为 XRF 可测量样品的元素组成，而元素分布不均会导致结果不准确。
-
样品制备技术：
- 研磨： 使用高速研磨机或其他专用实验室设备对样品进行研磨，直至达到最佳粒度。这一过程有助于获得准确反映整个样品成分的代表性样品。
- 颗粒制备： 然后将研磨好的样品倒入比色皿中压制成颗粒。重要的是，颗粒之间不能有空隙，粉末表面要平整均匀。这种制备方法可确保 X 射线与样品产生均匀的相互作用，从而获得可靠的分析结果。
-
液体样品：
- 也可对液体样品进行 XRF 分析。在这种情况下，通常将样品直接倒入光谱仪，无需研磨或压制成颗粒。不过，液体样品的表面积应足以覆盖光谱仪的测量区域，测量区域的直径通常为 32 毫米或 40 毫米。
总之，XRF 分析所需的样品量受 XRF 光谱仪的具体要求和样品本身性质的影响。正确的制备，包括研磨到正确的粒度并形成适当直径的颗粒，对于获得准确可靠的结果至关重要。
使用 KINTEK SOLUTION 的优质样品制备材料系列，您将发现 XRF 分析的精确性和效率。从专业研磨的颗粒到量身定制的液体样品解决方案，我们的产品可满足 XRF 光谱仪最严格的要求。KINTEK SOLUTION 是您一站式获取精确、可靠和高性能 XRF 样品制备解决方案的理想选择，它将提升您实验室的分析能力。立即了解我们的产品，释放 XRF 分析的全部潜能！
