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X 射线荧光 (XRF) 分析是一种多功能技术，用于确定各种材料的元素组成。所需的样品制备类型取决于样品的物理状态（固体、液体或粉末）和所需的分析精度。固体样品通常需要抛光以获得平整干净的表面，而粉末样品通常需要研磨并压制成颗粒或熔融成珠子。液体样品用适当的薄膜密封在杯中，以防止污染。表面处理对 XRF 分析的准确性起着至关重要的作用，尤其是对轻元素而言，因为粗糙的表面会散射并重新吸收波长较长的元素。专门的制备方法，如对地质样品使用结合剂或对液体选择合适的薄膜，可确保获得可靠的结果。

要点说明：

1. 固体样本:

   • 用于 XRF 分析的固体样品必须具有平整、干净的表面，以确保测量的准确性。
   • 准备工作包括使用工具抛光样品，如硬质金属使用研磨工具，软质金属使用车床。
   • 表面粗糙度会严重影响分析结果，尤其是碳或硫等轻元素。更精细的表面会产生更好的结果。
   • 不同类型的样品必须使用不同的工具，以避免污染。

2. 粉末样品:

   • 粉末通常以压制颗粒或熔珠的形式制备。
     • 压制颗粒:将样品研磨至粒度小于 75 微米，然后使用模组进行压制。如果样品不能自然粘合，可添加蜡粘合剂。
     • 熔珠:将样品与助熔剂混合，并加热至高温，以形成均匀的珠状物。这种方法可以避免粒度效应，但可能会稀释微量元素。
   • 地质样本通常含有硬而脆的矿物，将其研磨成细粉，并与纤维素或硼酸等结合剂混合，以改善颗粒的形成。

3. 液体样品:

   • 液体样品的制备方法是将液体倒入杯中并用薄膜密封。
   • 薄膜必须提供足够的支撑力和透射率，同时防止污染。
   • 这种方法简单明了，但需要仔细选择薄膜材料，以确保分析的准确性。

4. 表面光洁度及其影响:

   • 表面光洁度对 XRF 分析至关重要，尤其是轻元素。
   • 粗糙的表面会导致较长波长元素的散射和再吸收，从而降低分析的准确性。
   • 定量分析通常需要用车床或磨纸对表面进行抛光，对于较轻的元素，抛光越精细，结果越好。

5. 专业制备方法:

   • 对于地质样本，可使用纤维素或硼酸等结合剂来改善颗粒的形成，确保分析的准确性。
   • 制备熔珠可避免不同粒度的影响，但这种方法可能会稀释微量元素。
   • 咨询专家或参考特定文章（如有关利用 WDXRF 分析燃料中硫的文章）可为复杂应用提供额外指导。

通过了解这些制备方法及其影响，用户可以确保对各种类型的样品进行准确、高效的 XRF 分析。

汇总表：

样品类型	制备方法	主要考虑因素
固体	抛光以获得平整光洁的表面	表面粗糙度会影响精度，尤其是较轻的元件
粉末	压制颗粒或熔珠	粒度 <75 µm，地质样品的结合剂
液体	用适当的薄膜密封在杯中	薄膜的选择对防止污染至关重要

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