Xrf 有哪些误差？

XRF（X 射线荧光）分析中的主要误差通常与样品制备技术有关，特别是污染和交叉污染。这些误差会严重影响元素成分分析的准确性。

污染

XRF 样品制备过程中的污染通常发生在研磨过程中。当样品制备仪器中的外部成分无意中进入样品时就会发生这种情况。例如，研磨设备中的材料会与样品混合，导致结果不准确。此外，来自其他样品的交叉污染也可能发生，尤其是在处理各种类型样品的环境中。样品间交叉污染

这种类型的污染在分析各种类型的样品时尤其容易出现问题。如果使用相同的设备处理多个样品，而中间又没有进行适当的清洁，就会发生交叉污染。这会导致不同样品中的元素混合，从而扭曲所分析样品的实际成分。

校准标准和常规样品的制备

XRF 分析的准确性在很大程度上依赖于使用经认证的参考材料对仪器进行校准。如果校准标准和常规样品的制备方式不同，就会导致校准曲线出现误差，影响分析的准确性。因此，制定一致的方法来制备校准标准和未知样品以确保结果的可靠性至关重要。

对测量的影响

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