XRF 或 X 射线荧光是一种用于测量材料元素组成的技术。它通过分析样品在受到高能 X 射线轰击时发出的荧光 X 射线来实现。这种非破坏性方法可根据每种元素独特的光谱特征来识别和量化样品中的元素。
5 个要点说明
1.XRF 的原理
当样品暴露在 X 射线下时，这些 X 射线的能量会激发样品中原子的内部电子。当这些被激发的电子回落到原来的能级时，就会发射出特定能量的 X 射线，这是样品中元素的特征。这种 X 射线发射被称为 X 射线荧光。
2.检测和分析
发射的荧光 X 射线由 X 射线源和探测器组成的 XRF 光谱仪检测。探测器测量荧光 X 射线的能量和强度，然后对其进行分析，以确定样品的元素组成。探测器产生的光谱显示出与样品中元素相对应的能量峰。
3.样品制备
XRF 是一种相对宽松的分析方法，不需要大量的样品制备。样品可以是固体、粉末或液体。对于固体样品，测量时需要一个平整干净的表面。粉末样品通常需要粉碎和均质化，而液体样品可能需要特殊处理，以防止在分析过程中污染或改变样品。
4.应用和优势
XRF 广泛应用于金属分析、质量控制、废金属回收和贵金属分析等各个领域。它只需进行最少的样品制备就能获得快速、准确的结果，而且不具破坏性，这意味着样品在分析后仍能保持完好无损。
5.元素范围
XRF 技术可分析的元素范围从钠 (Na) 到铀 (U)，检测水平因原子中可用于电子跃迁的特定轨道而异。
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