要在 X 射线荧光 (XRF) 分析中获得最佳结果，样品制备的粒度至关重要。
XRF 样品制备的理想粒度通常小于 75 μm。
这可确保样品均匀且无空隙，从而为整个样品提供具有代表性的结果。
XRF 样品的制备方法包括液体和固体样品，固体样品通常以压制颗粒或熔珠的形式制备。
样品的比色皿、薄膜和表面质量的选择对分析的准确性也有重要影响。
5 个要点详解：XRF 样品制备须知
1.XRF 分析的最佳粒度
材料必须研磨成粒度小于 75 μm 的均匀混合物。
这可确保样品充分分散，并为整个样品提供具有代表性的结果。
要达到这种粒度，需要使用高速研磨机或专门的实验室设备。
2.样品均匀性的重要性
确保测试材料的颗粒之间没有空隙。
粉末应具有平整、均匀的表面，以避免结果失真。
研磨不良会导致空隙，从而影响分析的准确性。
3.XRF 样品制备类型
液体 XRF 样品制备
液体样品的制备方法是将液体倒入杯中，然后用合适的薄膜密封。
薄膜的选择至关重要，既能提供足够的支撑力和透射率，又能保持样品不受污染。
固体 XRF 样品制备
固体样品可以压制成颗粒或熔珠。
压制颗粒是将样品研磨至小于 75 µm，然后用模具压制而成。
4.用于 XRF 分析的设备和消耗品
测试过程中使用的比色皿和薄膜类型会影响测试结果。
XRF 中使用的消耗品种类繁多，但都不会使结果失真。
样品的表面质量和无空隙是准确分析的关键。
5.样品尺寸和制备技术
XRF 分析首选的样品表面尺寸通常为 32 毫米或 40 毫米。
有不同类型的压模可供选择，例如带内部压丸的压模和带铝制样品杯的压模。
APEX 400 压片机可自动完成颗粒弹射步骤，从而提高样品吞吐量。
样品制备的一般准则
粉末应具有面粉的稠度，干燥并研磨至 ~50µm 粒径。
理想情况下需要 5 克样品，但根据分析需要，也可以少至 1 克。
确认光谱仪的样品制备需求对于确保正确的样品大小和制备方法至关重要。
遵循这些准则并确保最佳粒度，可显著提高 XRF 分析的准确性和可靠性。
正确的样品制备对于获得高质量的结果和确保分析能够代表整个样品至关重要。
继续探索，咨询我们的专家
利用 KINTEK SOLUTION 的精密设备和耗材，释放 XRF 分析的全部潜能。
我们经过专业设计的产品可确保粒度小于 75 μm、均匀性和高质量的结果。
不要满足于此。现在就联系我们，提高您实验室的效率和准确性--只需点击一下鼠标，您就可以获得全面的解决方案！
