XRF 分析是一种非破坏性技术，通过用 X 射线轰击材料并测量产生的荧光辐射来确定材料的元素组成。该过程包括几个关键步骤：
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样品制备:根据样品类型（固体、粉末或液体）的不同，制备方法也各不相同。对于固体样品，要求表面平整干净。粉末样品通常需要粉碎和均质化，而液体样品则需要特殊处理，以确保测量的准确性。固体和粉末样品的一种常见制备方法是压制颗粒，这样可以确保元素的均匀分布，便于进行准确分析。
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X 射线曝光:将样品置于由 X 射线源或 X 射线管产生的 X 射线下。这些 X 射线与样品中的原子相互作用，使它们在电子移动到不同轨道时发出二次 X 射线（荧光辐射）。
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检测和分析:发射的荧光辐射由 XRF 光谱仪检测。每种元素都会产生独特的荧光辐射光谱，从而对样品中的元素进行识别和定量。检测器处理这些信息，根据不同峰值的强度生成光谱，显示各种元素的存在和浓度。
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结果解读:对 XRF 光谱仪生成的光谱进行分析，以确定样品的元素组成。这种分析对于水泥、采矿和工业矿物等行业的质量控制至关重要，因为这些行业的原材料和成品必须符合特定标准。
XRF 分析过程相对简单，通常不需要复杂的样品制备，因此是一种适用于各种行业和应用的高效元素分析方法。
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