XRF 测试或 X 射线荧光测试是一种非破坏性分析技术，用于确定材料的元素组成。其原理是将样品暴露在高能 X 射线下，使样品中的原子受到激发并发射二次 X 射线或荧光 X 射线。每种元素都会发射出独特的荧光 X 射线光谱，通过对这些光谱进行分析，可以识别和量化样品中的元素。
样品制备：
这一过程从样品的制备开始。根据材料的性质，样品可以从块状材料的表层提取，也可以提取碎片并均匀化成细粉。对于更复杂的样品，可使用颚式破碎机进行均质化。然后通常使用液压机将样品压成颗粒，这有助于在分析过程中保持样品的完整性。在某些情况下，可以使用自动称重和配料设备来加快样品制备过程。使用 XRF 光谱仪进行分析：
然后使用 XRF 光谱仪对制备好的样品进行分析，XRF 光谱仪由一个 X 射线源和一个检测器组成。X 射线源产生高能 X 射线射向样品。当这些 X 射线与样品相互作用时，会导致原子发射出荧光 X 射线。检测器捕捉这些荧光 X 射线并生成光谱，显示与样品中不同元素相对应的峰值。这些峰的高度表示每种元素的浓度。
结果解读：
对 XRF 光谱仪生成的光谱进行分析，以确定存在的元素及其各自的浓度。XRF 可检测的元素范围通常从钠 (Na) 到铀 (U)，检测水平因具体仪器和样品中电子轨道的可用性而异。样品制备的重要性：
