X 射线荧光光谱法 (XRF) 是一种用于元素分析的非破坏性分析技术。该方法是用高能 X 射线激发样品，使样品中的原子吸收能量，然后以每种元素特有的特定能量水平释放出 X 射线荧光辐射。通过测量这种荧光的能量和强度，可以确定样品的元素组成。XRF 广泛应用于地质学、采矿、环境科学、材料科学、制药、冶金和食品工业等各个领域。
详细说明：
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激发样品：
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XRF 分析从激发样品开始。这是通过将样品暴露于高能 X 射线来实现的。这些 X 射线的能量足以导致样品中原子的内层电子被激发出来。荧光辐射发射：
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一旦电子被射出，原子就处于激发态。为了回到稳定状态，高能级的电子会下降到空闲的低能级。这些能级之间的能量差会以 X 射线荧光辐射的形式发射出来。每种元素都有一套独特的能级，从而产生独特的辐射模式。
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测量和分析：
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使用 XRF 光谱仪测量发射的荧光辐射。由于每种元素都会以特定的能级发射辐射，因此通过分析辐射的能量可以确定样品中的元素。辐射强度与样品中元素的浓度成正比，可对元素进行量化。样品制备：
正确的样品制备是获得准确结果的关键。常用的方法包括压制颗粒，即将样品均质成细粉，然后压制成颗粒状。这种方法因其效率高、成本效益好、能得出高质量的结果而受到青睐。
