X 射线荧光光谱法 (XRF) 是一种用于元素分析的非破坏性分析技术。
该方法是用高能 X 射线激发样品，使样品中的原子吸收能量，然后以每种元素特有的特定能量水平释放出 X 射线荧光辐射。
通过测量这种荧光的能量和强度，可以确定样品的元素组成。
XRF 广泛应用于地质学、采矿、环境科学、材料科学、制药、冶金和食品工业等各个领域。
什么是 XRF 分析程序？5 个关键步骤说明
1.激发样品
XRF 分析从激发样品开始。
这是通过将样品暴露于高能 X 射线来实现的。
这些 X 射线的能量足以使样品中原子的内层电子被激发出来。
2.发射荧光辐射
一旦电子被射出，原子就处于激发态。
为了回到稳定状态，高能级的电子会落入空闲的低能级。
这些能级之间的能量差就会以 X 射线荧光辐射的形式发射出来。
每种元素都有一套独特的能级，从而产生独特的辐射模式。
3.测量和分析
发射的荧光辐射使用 XRF 光谱仪进行测量。
由于每种元素都会以特定的能级发射辐射，因此可以通过分析辐射的能量来识别样品中的元素。
辐射强度与样品中元素的浓度成正比，可对元素进行量化。
4.样品制备
正确的样品制备是获得准确结果的关键。
常用的方法包括压制颗粒，即将样品均质成细粉，然后压制成颗粒状。
这种方法因其效率高、成本低和能得出高质量的结果而备受青睐。
5.应用和优势
XRF 因其非破坏性而备受推崇，可在不改变或不损坏的情况下分析有价值的样品。
便携式 XRF 分析仪可在不同地点和条件下进行分析，从而进一步扩大了其用途，增强了其在现场研究和现场检测中的适用性。
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