XRF（X 射线荧光）分析的样品穿透深度通常在 1-1000 微米之间。
穿透深度受样品中元素原子量的影响。
与较重的元素相比，较轻的元素较难探测到较深的深度。
这是因为分析过程中发射的特征 X 射线通常是由这些深度的表面原子产生的。
探测不同深度元素的能力对于准确分析至关重要。
它会影响 XRF 光谱仪接收到的信号。
能量较高的元素，通常是原子序数较高的元素，在样品中的逸出深度较深。
这意味着与低能量元素相比，它们可以从更深的层中被检测到。
这种深度灵敏度是制备和解释 XRF 分析结果的关键因素。
4 重要启示
1.穿透深度范围
XRF 分析穿透样品的深度通常在 1-1000 微米之间。
2.原子量的影响
穿透深度受样品中元素原子量的影响。
3.元素的检测
与较重的元素相比，较轻的元素较难探测到较深的深度。
4.深度灵敏度
高能量元素的逸出深度较深，这意味着可以从更深的地层探测到它们。
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