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显微 X 射线荧光（micro-XRF）是一种功能强大的分析技术，可用于高空间分辨率的元素分析。微 XRF 的样品量是影响分析准确度和精确度的关键因素。正确的样品制备和处理对确保可靠的结果至关重要。下面将详细解释与微 XRF 样品大小和制备有关的关键注意事项。

要点说明：

1. 样本量和几何:

   • Micro-XRF 设计用于分析小区域，通常在微米到毫米之间。样品尺寸应与仪器的平台和光束尺寸相匹配。
   • 样品的几何形状必须能够在 X 射线束下正确定位。最好选择平整均匀的表面，以确保与 X 射线束的相互作用一致。

2. 样品制备方法:

   • 粉末颗粒:对于粉末状样品，压制成颗粒是一种常见的制备方法。这种方法可确保样品表面均匀稳定，便于分析。
   • 薄膜:薄膜可用于需要在薄层中分析样品的特定应用。这种方法可将吸收效应降至最低，并提高对某些元素的灵敏度。
   • 粘合剂:使用粘合剂有助于形成稳定的颗粒。不过，应仔细考虑粘合剂的选择，以避免干扰目标元素的分析。

3. 防止破损和确保稳定性:

   • 制备的样品必须能够承受测量过程而不破裂或退化。这一点对于压制的粉末颗粒尤为重要，因为它们可能很脆弱。
   • 正确选择颗粒模具和压制机等附件有助于制作耐用的样品。

4. 尽量减少分析错误:

   • 样品制备方法的选择应以尽量减少分析误差为目标。例如，使用薄膜或适当的粘合剂可以减少背景噪声，提高目标元素的检测限。
   • 确保均匀平整的表面对避免 X 射线束相互作用的变化至关重要，否则会导致结果不准确。

5. 实际考虑因素:

   • 样品大小应在所使用的特定微型 XRF 仪器的可控范围内。较大的样品可能需要切片或修剪，以适应分析阶段。
   • 对于形状不规则的样品，安装或嵌入合适的介质有助于获得分析所需的几何形状。

总之，用于显微 XRF 分析的样品大小受仪器能力和分析具体要求的影响。正确的样品制备，包括选择适当的方法和附件，对确保获得准确可靠的结果至关重要。通过考虑样品几何形状、制备方法和稳定性等因素，分析人员可以优化他们的微型 XRF 测量，以满足广泛的应用需求。

汇总表：

主要考虑因素	详细信息
样品尺寸	通常为微米到毫米，与仪器平台兼容。
样品几何形状	表面应平整均匀，以保证 X 射线光束相互作用的一致性。
制备方法	压制粉末颗粒、薄膜和粘合剂，以获得稳定的样品。
稳定性	使用耐用配件，防止在分析过程中破损。
误差最小化	选择减少背景噪声和提高检测限的方法。
实用技巧	修整或安装不规则样品，以适应分析阶段。

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