在制备用于 X 射线荧光 (XRF) 分析的样品时，颗粒的大小是影响分析精度和效率的关键因素。
常见的 XRF 圆形颗粒尺寸为直径 32 毫米和 40 毫米。
这些尺寸是首选，因为它们提供了更大的样品表面，通过确保更好的准确性、可重复性和结果一致性来提高分析质量。
XRF 颗粒的标准尺寸
XRF 圆形颗粒最常见的尺寸是直径 32 毫米和 40 毫米。
这些尺寸已被广泛接受并用于各类 XRF 光谱仪。
在 32 毫米和 40 毫米之间做出选择通常取决于光谱仪的具体要求和所分析样品的性质。
颗粒尺寸的重要性
在 XRF 分析中，通常需要较大的样品表面，以确保更好的准确性和可重复性。
直径为 32 毫米和 40 毫米的颗粒可提供足够的表面积，让 X 射线与样品相互作用，从而获得更可靠、更一致的结果。
样品制备和颗粒形成
用于 XRF 分析的样品通常要研磨成细粉，以确保粒度一致。
然后用模具将细粉压制成颗粒。
标准方法是使用一个可压碎的铝制支撑杯来固定样品。
颗粒是在高压下形成的，压力通常在 10-20 吨之间，但对于难度很大的样品，压力有时会高达 40 吨。
厚度和逃逸深度
颗粒的厚度对于确保其大于被测最高能量元素的逸出深度至关重要。
通常情况下，直径 32 毫米的样品颗粒厚度为 8-10 克，直径 40 毫米的样品颗粒厚度为 13-15 克，这样的厚度足以满足功能强大的 WDXRF 仪器对大多数元素的测量要求。
自动化和效率
对于需要高样品吞吐量的实验室，可以使用 APEX 400 压片机等自动化系统。
这种压片机可将颗粒弹射步骤完全自动化，从而使操作人员能够专注于其他任务，并提高实验室的整体效率。
污染考虑因素
样品制备过程中的污染会严重影响 XRF 分析的质量。
最大限度地减少来自样品制备设备的污染并防止样品之间的交叉污染至关重要。
使用纤维素或硼酸等适当的结合剂有助于减少污染。
总之，XRF 颗粒的标准尺寸为直径 32 毫米和 40 毫米。
选择这些尺寸是为了提供更大的样品表面，确保 XRF 分析具有更好的准确性和可重复性。
正确的样品制备，包括研磨成细粉和在适当的压力下压制，对于形成高质量的颗粒至关重要。
APEX 400 压片机等自动化工具可以提高实验室效率，而小心防止污染则是获得可靠结果的关键。
继续探索，咨询我们的专家
了解KINTEK SOLUTION 的精密 XRF 粒料 如何提高您的分析精度。
我们的颗粒标准尺寸为 32 毫米和 40 毫米，具有无与伦比的一致性和表面积，可提高分析结果的准确性。
使用我们的APEX 400 压片机 并保护您的样品免受污染。
不要满足于少接触今天就联系 了解根据您的实验室需求量身定制的专业解决方案。
释放 XRF 分析的全部潜能。
