筛分粒度分析的局限性包括：由于可获得的粒度分数数量有限而导致分辨率有限，仅限于干燥颗粒，最小测量限制为 50 微米，以及潜在的耗时性。
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分辨率有限:标准筛堆最多由 8 个筛子组成，这意味着粒度分布仅基于 8 个数据点。这种限制降低了分析的分辨率，与其他能提供更多粒度数据点的方法相比，分析不够详细。
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仅限于干燥颗粒:筛分分析只能对干燥颗粒进行。这一限制排除了对湿或潮湿样品的分析，而这在某些行业或应用中可能是至关重要的，因为水分含量会影响颗粒行为或产品质量。
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最小测量限制:该方法的最小测量限为 50 微米。这意味着小于 50 微米的颗粒无法使用筛分分析法进行精确测量。在制药或化妆品行业等经常出现极细颗粒的行业中，这是一个很大的限制。
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耗时:筛分分析可能相当耗时，尤其是在处理大量样品或需要进行多次测试时。这会延误生产环境中工艺调整或质量控制所需的反馈。
这些局限性凸显了在筛分分析无法提供足够细节或因被分析颗粒的性质而不适用的情况下，对补充或替代方法的需求。
KINTEK 先进的颗粒分析解决方案克服了传统筛分分析的局限性。我们的尖端技术具有更高的分辨率、干湿样品的通用性以及测量远小于 50 µm 的颗粒的能力。告别耗时的过程，迎接精确高效的分析。利用 KINTEK 的创新工具提高您的研究和生产质量。立即联系我们，为您的粒度分析带来革命性的改变！
